[发明专利]一种晶振振荡检测电路有效
| 申请号： | 202210094632.3 | 申请日： | 2022-01-26 |
| 公开（公告）号： | CN114578153B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 王肖;蔡杰 | 申请（专利权）人： | 奉加科技（上海）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 201403 上海市奉*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 振荡 检测 电路 | ||
1.一种晶振振荡检测电路，其特征在于，包括用于检测高频晶振由起振至平稳的第一检测电路和第二检测电路；其中，
所述第一检测电路在第一时间内利用RC时钟对所述高频晶振的振动频次多次检测，在所述第一时间之内的任意时段的两次振动频次相差最小数值时，所述第一检测电路停止检测；
振动频次处于平稳状态的所述高频晶振进行分频；
所述第二检测电路在第二时间内利用所述RC时钟对的所述高频晶振的分频振动频次多次检测，在所述第二时间之内的任意时段的两次分频振动频次相差最小数值时，所述第二检测电路停止检测；
所述第一时间和所述第二时间为芯片由休眠期至唤醒期的时间基准。
2.根据权利要求1所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，所述第一检测电路包括：低频振荡器；
所述低频振荡器连接所述RC时钟，追踪所述第一时间内的所述高频晶振的振动频次。
3.根据权利要求2所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，所述低频振荡器在所述芯片的休眠期持续工作。
4.根据权利要求3所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，所述高频晶振在所述第一时间内的振动频次未处于平稳状态时，所述芯片进入休眠期，并在第三时间后所述芯片上电对所述高频晶振重新起振。
5.根据权利要求4所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，所述第三时间的时长随多次所述第一时间内的振动频次未处于平稳状态的次数延长。
6.根据权利要求4所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，振动频次处于平稳状态的所述高频晶振通过所述芯片打开锁相环进行分频。
7.根据权利要求6所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，所述第二检测电路包括：分频时钟；
所述分频时钟连接所述RC时钟，追踪所述第二时间内的所述高频晶振的分频振动频次。
8.根据权利要求7所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，所述第二时间内的所述高频晶振的分频振动频次未处于平稳状态时，所述分频时钟关闭，所述高频晶振重新分频。
9.根据权利要求8所述的晶振振荡检测电路，其特征在于，多次所述第二时间内的所述高频晶振的分频振动频次未处于平稳状态时，所述芯片进入休眠期，并在间隔所述第三时间后所述芯片上电对所述高频晶振重新起振。
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