[发明专利]一种平板探测器坏点快速校正方法及装置

权利要求书

1.一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1：获取各个像素点对应的灰度值数据；

S2：对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值筛选出坏点；所述坏点与相临像素点之间的灰度差值大于所述灰度差阈值；

S3：计算出与所述坏点相临像素点的平均灰度值；

S4：采用所述平均灰度值来替换对应的坏点的灰度值。

2.根据权利要求1所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，还包括以下步骤：

S5：重复步骤S3至S4，直至完成各个坏点的灰度值的替换；

S6：输出校正后的图像。

3.根据权利要求1或2所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下步骤：

S211：计算出各个相临像素点之间的灰度差值；

S212：分别对各个灰度差值与确定的灰度差阈值进行对比计算；当灰度差值大于所述灰度差阈值时，对所述灰度差值对应的两个像素点均进行标记，并累计各像素点被标记的次数；

S213：根据像素点被标记的次数进行与标记阈值进行对比计算，当像素点被标记的次数大于所述标记阈值时，判断该像素点为坏点。

4.根据权利要求3所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于：

所述标记阈值为3。

5.根据权利要求1或2所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于，所述步骤S2包括以下步骤：

S221：选取一个像素点，并分别计算所述像素点与相临像素点之间的各个灰度差值；

S222：对所述的各个灰度差值与确定的灰度差阈值进行对比计算，当大于所述灰度差阈值的灰度差值的数量超过设定的判定阈值时，判断所述选取的像素点为坏点。

6.根据权利要求5所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于：

所述判定阈值为相临像素点的数量的50％。

7.根据权利要求4或6所述的一种平板探测器坏点快速校正方法，其特征在于：

所述相临像素点包括分别在横向、竖向以及斜向方向上相临的像素点。

8.一种采用权利要求1至7任一项所述的平板探测器坏点快速校正方法的坏点快速校正装置，其特征在于，包括：信息获取模块、坏点筛选模块、校正模块和输出模块；

所述信息获取模块用于获取各个像素点对应的灰度值数据；

所述坏点筛选模块用于对相临像素点进行灰度差值计算，并根据确定的灰度差阈值筛选出坏点；

所述校正模块用于根据与坏点相临的像素点的平均灰度值，对坏点进行灰度值的校正；

所述输出模块用于根据校正后的灰度值数据生出校正后的图像。

9.一种计算设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机指令，其特征在于，所述处理器执行所述指令时实现权利要求1至7任意一项所述方法的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其存储有计算机指令，其特征在于，该指令被处理器执行时实现权利要求1至7任意一项所述方法的步骤。