[发明专利]用于电子实验箱插孔连线的检测电路及检测方法在审

专利信息
申请号: 202210093736.2 申请日: 2022-01-26
公开(公告)号: CN114527319A 公开(公告)日: 2022-05-24
发明(设计)人: 霍澄平;苏燕莹;沈忠彪;王登威 申请(专利权)人: 深圳市潜流科技有限公司
主分类号: G01R19/25 分类号: G01R19/25
代理公司: 深圳市惠邦知识产权代理事务所 44271 代理人: 满群
地址: 518000 广东省深圳市南山区粤海*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 用于 电子 实验 插孔 连线 检测 电路 方法
【权利要求书】:

1.一种用于电子实验箱插孔连线的检测电路,其特征在于,包括通过线路依次连接的计算机、微处理器、扫描电路及插孔检测模组。

2.根据权利要求1所述的用于电子实验箱插孔连线的检测电路,其特征在于,所述扫描电路为74164标准逻辑电路。

3.根据权利要求1所述的用于电子实验箱插孔连线的检测电路,其特征在于,所述插孔检测模组包括至少两组结构相同的插孔检测电路,所述插孔检测电路与电子实验箱的各插孔一一对应,两插孔之间通过2芯导线连接。

4.根据权利要求3所述的用于电子实验箱插孔连线的检测电路,其特征在于,所述2芯导线包括通过防护胶皮包裹的检测导线和实验导线,所述检测导线与实验导线相互之间无连接关系。

5.根据权利要求3所述的用于电子实验箱插孔连线的检测电路,其特征在于,所述插孔检测电路包括两三极管Qin、Qout、上拉电阻Rs、电阻Rup、第一电阻R1、第二电阻R2及插孔J;

所述三极管Qin的基极与第一电阻R1串联后与扫描输入端SCAN_IN串联,所述三极管Qin的集电极与输出端S连接,所述三极管Qin的发射极与所述三极管Qout的集电极连接,所述三极管Qout的基极与第二电阻R2串联后与扫描输出端SCAN_OUT串联,所述三极管Qout的发射极接地;

位于三极管Qin的发射极与三极管Qout的集电极之间的电路还连接有第一支路和第二支路,所述第一支路上与电阻Rup串联后与电源VCC连接,第二支路与插孔连接;

位于三极管Qin的发射极与输出端Q之间的电路还连接有第三支路,所述第三支路与上拉电阻Rs串联后与电源VCC连接。

6.根据权利要求5所述的所述的用于电子实验箱插孔连线的检测电路,其特征在于,所述扫描输入端SCAN_IN包括输入端IN_SEL和IN_CLK;

所述扫描输出端SCAN_OUT包括输出端OUT_SEL和OUT_CLK。

7.一种检测电路的检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤⑴,获取电子实验箱当前使用的插孔总数N;

步骤⑵,设置IN_SEL为低电平,IN_CLK输出N个脉冲;

步骤⑶,设置OUT_SEL为低电平,OUT_CLK输出N个脉冲;

步骤⑷,设置当前扫描的插孔编号i为1;

步骤⑸,设置IN_SEL为高电平,IN_CLK输出1个脉冲,再设置IN_SEL为低电平;

步骤⑹,i是否大于N,是,则跳至步骤⒃;否,则进入下一步;

步骤⑺,设置OUT_SEL为高电平,OUT_CLK输出1个脉冲;

步骤⑻,设置OUT_SEL为低电平,OUT_CLK输出i个脉冲;

步骤⑼,设置当前要扫描的输入孔编号为j,j=i+1;

步骤⑽,j是否大于N,是,则转到步骤⒁;否,则进入下一步;

步骤⑾,S信号是否为低电平,是则记录(i,j)孔之间有连线;否,则记录为无连线;

步骤⑿,OUT_CLK输出1个脉冲;

步骤⒀,设置当前要扫描的输入孔编号j,j=j+1,跳至步骤⑽;

步骤⒁,IN_CLK输出1个脉冲;

步骤⒂,设置当前要扫描的输出孔编号i为i+1,跳转到步骤⑹;

步骤⒃,记录的所有孔对连线状态发送给计算机。

8.一种基于权7所述检测方法的检测电路,其特征在于,包括通过线路依次连接的计算机、微处理器、扫描电路及插孔检测模组;

所述扫描电路采用74164标准逻辑电路,包括结构相同的输入扫描电路和输出扫描电路;

所述输入扫描电路的A端和B端并联后与输入端IN_SEL连接,CLK端与输入端IN_CLK连接,CLR端与电源VCC连接,Q0~Q7端口分别与插孔检测电路的扫描输入端SCAN_IN连接;

所述输出扫描电路的A端和B端并联后与输出端OUT_SEL连接,CLK端与输出端OUT_CLK连接,CLR端与电源VCC连接,Q0~Q7端分别与插孔检测电路的输出端SCAN_OUT连接;

若干组插孔检测电路的三极管Qin的集电极并联后与输出端S连接;

所述输入端IN_SEL、IN_CLK、输出端OUT_SEL、OUT_CLK、输出端S均与微处理器通过线路连接,所述微处理器与所述计算机通过线路有线连接或无线连接;

所述插孔检测模组包括8组结构相同的检测电路,所述插孔检测电路包括两三极管Qin、Qout、上拉电阻Rs、电阻Rup、第一电阻R1、第二电阻R2及插孔J;

所述三极管Qin的基极与第一电阻R1串联后与扫描输入端SCAN_IN串联,所述三极管Qin的集电极与输出端S连接,所述三极管Qin的发射极与所述三极管Qout的集电极连接,所述三极管Qout的基极与第二电阻R2串联后与扫描输出端SCAN_OUT串联,所述三极管Qout的发射极接地;

位于三极管Qin的发射极与三极管Qout的集电极之间的电路还连接有第一支路和第二支路,所述第一支路上与电阻Rup串联后与电源VCC连接,第二支路与插孔连接;

各组的插孔检测电路位于三极管Qin的发射极相互并联后与输出端Q连接,所述输出端Q与上拉电阻Rs串联后与电源VCC连接;

需要检测的两插孔检测电路之间的插孔J通过检测导线相互连接。

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