[发明专利]空间坐标测量仪器

权利要求书

1.一种空间坐标测量仪器，其特征在于，包括具有第一旋转轴和基准部的第一旋转装置和设置于所述第一旋转装置并具有第二旋转轴的第二旋转装置，所述第一旋转轴与所述第二旋转轴正交，所述空间坐标测量仪器配置为测量辅助测量装置的空间坐标，并且利用所述辅助测量装置对所述空间坐标测量仪器的误差进行标定，所述标定的方法包括：测量标准杆的实际长度作为第一测长值；将所述空间坐标测量仪器置于承载面的支撑装置；以垂直于所述承载面的方式固定所述标准杆，通过所述空间坐标测量仪器对所述标准杆的长度进行测量以获得第二测长值；以平行于所述承载面的方式固定所述标准杆，通过所述空间坐标测量仪器对所述标准杆的长度进行测量以获得第三测长值；令经过所述第二旋转轴的轴线并平行于所述承载面的虚拟面与所述第一旋转轴的轴线的交点为所述空间坐标测量仪器的中心位置，令所述中心位置与所述基准部的基准面的凹槽状中心之间的距离为基准距离，基于所述第一测长值和所述第二测长值标定与所述基准距离相匹配的基准距离误差值；并且令所述第一旋转轴的轴线和所述第二旋转轴的轴线的线间距为异面误差值，基于所述第一测长值、所述第三测长值以及所述基准距离误差值标定所述异面误差值。

2.如权利要求1所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

基于所述第一测长值、所述第二测长值和第一预设倍数标定与所述基准距离相匹配的基准距离误差值，并且基于所述第一测长值、所述第三测长值、所述基准距离误差值、以及第二预设倍数标定所述异面误差值，其中，所述第一预设倍数与测量所述第二测长值时所述空间坐标测量仪器在竖直方向上的第一旋转角度相关，所述第二预设倍数与测量所述第三测长值时所述空间坐标测量仪器在水平方向上的第二旋转角度相关。

3.如权利要求1所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

所述承载面的平面度偏差小于第一预设值。

4.如权利要求1所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

所述第一旋转轴与所述承载面垂直。

5.如权利要求1所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

所述标准杆包括第一端部和第二端部，

当以垂直于所述承载面的方式固定所述标准杆时，通过将所述辅助测量装置依次设置于所述第一端部和所述第二端部测量所述第一端部的坐标值和所述第二端部的坐标值以获得所述第二测长值，

当以平行于所述承载面的方式固定所述标准杆时，通过将所述辅助测量装置依次设置于所述第一端部和所述第二端部测量所述第一端部的坐标值和所述第二端部的坐标值以获得所述第三测长值。

6.如权利要求5所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

所述第一端部与所述第二端部到所述中心位置的距离相等。

7.如权利要求2所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

令所述第一测长值和所述第二测长值的差值为第一误差值，若所述第一误差值大于第二预设值，则基于所述第一误差值获得所述基准距离误差值与第一预设倍数的乘积，进而标定所述基准距离误差值。

8.如权利要求7所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

令所述第一测长值和所述第三测长值的差值为第二误差值，若所述第一误差值大于所述第二预设值或所述第二误差值大于第三预设值，则基于所述第二误差值获得所述基准距离误差值与所述异面误差值之和与所述第二预设倍数的乘积，进而基于所述基准距离误差值标定所述异面误差值。

9.如权利要求1所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

所述基准部为所述辅助测量装置的初始放置点，所述空间坐标测量仪器测量所述标准杆的长度之前，将所述辅助测量装置置于所述基准部以对所述空间坐标测量仪器进行初始化。

10.如权利要求1所述的空间坐标测量仪器，其特征在于：

所述标准杆为标准铟瓦尺、标准碳钎维或含激光干涉仪的导轨，所述第一测长值通过双频干涉仪或三坐标测量仪器对所述标准杆进行测量。