[发明专利]数据储存装置及其损坏数据区块的筛选方法

说明书

一种数据储存装置及其损坏数据区块的筛选方法包括：写入数据至样本区块；读取样本区块的写入数据为读取数据；比对样本区块的每一数据列的读取数据与写入数据以计算每一数据列的错误比特数，并据以计算每一大块的错误比特数；选取具有最大错误比特数的大块以记录此大块中具有最大错误比特数的数据列为损坏数据列；判断此大块的错误比特数是否大于等于第一门坎值及损坏数据列的数量是否大于等于第二门坎值；以及当判断此大块的错误比特数大于等于第一门坎值及此大块中的损坏数据列的数量大于等于第二门坎值时，记录样本区块为损坏数据区块。

技术领域

本发明涉及一种数据储存装置的存取技术，尤其涉及一种数据储存装置的损坏数据区块的筛选方法。

背景技术

数据储存装置的分级是根据取样的数据区块(block)的好坏来判断。也就是说，取样的数据区块的好坏会对数据储存装置的统计特性参数(如各个数据列(data column)的平均错误率)造成影响如产生偏移，尤其是对次级品的数据储存装置(Downgrade Flash)的影响更为重大。因此，需要一种在对数据储存装置取样数据区块时筛选损坏数据区块的方法。

发明内容

本发明提供一种数据储存装置及其损坏数据区块的筛选方法，可将损坏数据区块从样本区块中移除，以避免损坏数据区块造成数据储存装置的统计特性参数偏移。

本发明所提供的损坏数据区块的筛选方法，适用于数据储存装置，其中所述数据储存装置包括控制单元及数据储存媒体，且数据储存媒体包括多个数据区块，每一数据区块包括多个数据列，而这些数据列被划分为多个大块。控制单元执行损坏数据区块的筛选方法包括：写入数据至一样本区块，其中此样本区块选自于多个数据区块；读取此样本区块的写入数据为读取数据；比对此样本区块的每一数据列的读取数据与写入数据以计算每一数据列的错误比特数，并据以计算每一大块的错误比特数；选取具有最大错误比特数的大块以记录此大块中具有最大错误比特数的一数据列为损坏数据列；判断此大块的错误比特数是否大于或等于第一门坎值及损坏数据列的数量是否大于或等于第二门坎值；以及当判断此大块的错误比特数大于或等于第一门坎值及此大块中的损坏数据列的数量大于或等于第二门坎值时，记录此样本区块为损坏数据区块；其中，第一门坎值是数据储存装置的错误更正码可更正的错误比特数；其中，第二门坎值是数据储存装置可记录的损坏数据列的总数。

本发明所提供的数据储存装置包括数据储存媒体以及连接数据储存媒体的控制单元。数据储存媒体包括多个数据区块，其中每一数据区块包括多个数据列，而多个数据列被划分为多个大块。控制单元用以执行损坏数据区块的筛选方法。此筛选方法包括：写入数据至一样本区块，其中此样本区块选自于多个数据区块；读取此样本区块的写入数据为读取数据；比对此样本区块的每一数据列的读取数据与写入数据以计算每一数据列的错误比特数，并据以计算每一大块的错误比特数；选取具有最大错误比特数的大块以记录此大块中具有最大错误比特数的一数据列为损坏数据列；判断此大块的错误比特数是否大于或等于第一门坎值及损坏数据列的数量是否大于或等于第二门坎值；以及当判断此大块的错误比特数大于或等于第一门坎值及此大块中的损坏数据列的数量大于或等于第二门坎值时，记录此样本区块为损坏数据区块；其中，第一门坎值是数据储存装置的错误更正码可更正的错误比特数；其中，第二门坎值是数据储存装置可记录的损坏数据列的总数。

在本发明的一实施例中，上述每一大块包括数据区以及备用区。

在本发明的一实施例中，上述每一数据区块包括多个数据页，每一数据页包括位于同一列的多个数据列。

在本发明的一实施例中，上述每一数据页包括数据区及备用区，且这些大块位于数据区。

在本发明的一实施例中，上述第一门坎值与损坏数据列的数量是负相关。

本发明提供的数据储存装置及其损坏数据区块的筛选方法，因可从样本区块中移除损坏数据区块，因此可避免损坏数据区块造成数据储存装置的统计特性参数偏移。