[发明专利]坏块表继承方法及其存储装置

说明书

本申请公开了一种坏块表继承方法及其存储装置。坏块表继承方法应用于存储装置的主控芯片且包括以下步骤：对存储装置的存储模块进行扫描检测，以生成原始坏块表，并存储在存储模块的第一存储位置，其中，原始坏块表记录存储模块中每一个平面的坏块信息；以及对存储模块进行低级格式化操作时，读取原始坏块表，并基于存储装置所操作的多平面模式执行自适应继承程序，以生成系统坏块表，并存储在存储模块的第二存储位置，其中，系统坏块表记录多平面模式对应的坏块信息。因此，可保证存储装置损坏不认盘或更新固件时仍可获取原始坏块表，且存储装置更换操作的平面模式时，也可完整继承原始坏块表。

技术领域

本申请涉及数据存储技术领域，尤其涉及一种坏块表继承方法及其存储装置。

背景技术

随着存储装置的应用领域日益广泛，对存储装置的数据可靠性和操作效率的要求也越来越高。因此，坏块管理成为至关重要的议题。

所述坏块是指存储装置的存储模块中不可用的块(block)，可以分为两种：原厂坏块和新增坏块。其中，原厂坏块是指存储模块在出厂时就存在不符合厂商标准的块；新增坏块是指在存储模块使用过程中因为磨损而导致存在无法正常操作或无法达到厂商标准的块。所述坏块管理是通过记录存储模块的坏块信息的坏块表(Defect Block Table)进行管理，使得存储装置操作存储模块时可以跳过坏块，防止操作到坏块，进而避免影响存储装置可靠性和效率。

现有的存储装置会通过稳定性测试过程，以存储装置所操作的平面(plane)数为单元记录原厂坏块和新增坏块，生成坏块表。然而，上述生成坏块表的方式存在局限性，例如：当存储装置损坏不认盘或更新固件时，所述坏块表就会丢失；当存储装置更换操作的平面模式时，无法继承所述坏块表。因此，坏块表继承方法是存储装置研发过程中的重要环节。

发明内容

本申请实施例提供一种坏块表继承方法及其存储装置，可解决现有技术中，存储装置损坏不认盘或更新固件时，存在坏块表丢失的问题，以及存储装置更换操作的平面模式时，存在无法继承坏块表的问题。

为了解决上述技术问题，本申请是这样实现的：

本申请提供了一种坏块表继承方法，应用于存储装置的主控芯片。所述坏块表继承方法包括以下步骤：对存储装置的存储模块进行扫描检测，以生成原始坏块表，并存储在存储模块的第一存储位置，其中，原始坏块表记录存储模块中每一个平面的坏块信息；以及对存储模块进行低级格式化操作时，读取原始坏块表，并基于存储装置所操作的多平面模式执行自适应继承程序，以生成系统坏块表，并存储在存储模块的第二存储位置，其中，系统坏块表记录多平面(multi-plane)模式对应的坏块信息。

本申请提供了一种存储装置，其包括：存储模块和主控芯片，存储模块包括第一存储位置与第二存储位置，主控芯片包括微处理器，微处理器连接存储模块。微处理器用于对所述存储模块进行扫描检测，以生成原始坏块表，并存储在第一存储位置；以及对存储模块进行低级格式化操作时，读取原始坏块表，并基于存储装置所操作的多平面模式执行自适应继承程序，以生成系统坏块表，并存储在第二存储位置；其中，原始坏块表记录存储模块中每一个平面的坏块信息，系统坏块表记录多平面模式对应的坏块信息。

在本申请实施例中，坏块表继承方法及其存储装置通过以单平面数为单元所生成的原始坏块表存储在存储模块的第一存储位置，及对原始坏块表进行继承自适应机制所生成的系统坏块表存储在存储模块的第二存储位置，可保证在存储模块的第一存储位置没有损坏的前提下，原始坏块表不会因存储装置在整个系统(whole system)状态下损坏不认盘或更新固件而丢失，并且通过系统坏块表实现继承原始坏块表的功效。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为依据本申请的存储装置的一实施例框图；