[发明专利]一种测量串联同质传输线驻波比及回波损耗的简便方法

说明书

本发明公开了射频及微波电路设计与测试领域的一种测量串联同质传输线驻波比及回波损耗的简便方法，其中对于待测均质长传输线的测试方法如下所述：步骤1：测量获得待测长传输线的长度；步骤2：制作一段与待测长传输线结构、材料相同的短传输线，短传输线的长度为待测长传输线的1/n，n大于1；步骤3：测量获得该短传输线的回波损耗数值RL1以及驻波比数值VSWR1；步骤4：采用公式1获得待测长传输线的回波损耗数值RLn，RLn＝10logn+RL1；采用公式2获得待测长传输线的驻波比数值VSWRn，本发明可简单方便地测量出串联多段同质短传输线形成的长传输线的回波损耗与驻波比，并在已知长传输线的回波损耗与驻波比时，可测量出短传输线的回波损耗与驻波比。

技术领域

本发明涉及射频及微波电路设计与测试领域，具体是一种测量串联同质传输线驻波比及回波损耗的简便方法。

背景技术

在射频及微波电路工程中，有时需要测试一段长传输线的回波损耗及驻波比的数值，现有测试方法采用长射频线缆和连接器将传输线的2个端头分别与矢量网络分析仪或其它适用的仪器设备的输入/输出端口连接进行测试。一般的检测仪器的测试线缆的长度较短，而待测传输线的长度较长，需要额外延长射频线缆，并且还需要在测试结果中对延长段射频线缆的回波损耗和驻波比数值进行“去嵌入”处理，因此存在测试不方便，且引入额外误差，测试结果不准确等缺陷。

在射频及微波电路工程中，有时需要测试一段短传输线的回波损耗及驻波比的数值，但是由于种种原因，难以对该段短传输线的回波损耗及驻波比进行测量。例如，对于QFN型陶瓷外壳的射频I/O共面波导传输线，传输线的一端在外壳腔体内部陶瓷基板的上表面，传输线的另一端在外壳腔体外部陶瓷基板的下表面，采用现有的测试方法难以对该传输线的回波损耗及驻波比进行测量。

发明内容

本发明提出了一种简便测量方法，只需对单段短传输线的回波损耗或驻波比数值进行测量，不需要额外延长射频线缆，也不需要对测试结果进行“去嵌入”处理，即可方便地获得串联多段同质短传输线形成的长传输线的回波损耗数值及驻波比数值。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种测量串联同质传输线驻波比及回波损耗的简便方法，对于待测均质长传输线的测试方法如下所述：

步骤1：测量获得待测均质长传输线的长度；

步骤2：制作一段与待测长传输线结构、材料相同的短传输线，短传输线的长度为待测长传输线的1/n，n大于1；

步骤3：通过检测仪器测量获得该均质短传输线的回波损耗数值RL1以及驻波比数值VSWR1；

步骤4：采用公式1获得待测长传输线的回波损耗数值RLn，所述公式1为：

RLn＝10logn+RL1；

采用公式2获得待测长传输线的驻波比数值VSWRn，所述公式2为：

在一些实施例中，对于待测短传输线的测试方法如下所述：

步骤1：测量获得待测短传输线的长度；

步骤2：制作一段与待测短传输线结构、材料相同的均质长传输线作为测试样品，均质长传输线的长度为待测短传输线长度的n倍，其中n为整数，且n＞1；

步骤3：通过检测仪器获得该长传输线的回波损耗数值RLn以及驻波比数值VSWRn；

步骤4：采用公式3获得待测短传输线的回波损耗数值RL1，所述公式3为：

RL1＝RLn-10logn；

采用公式4获得待测短传输线的驻波比数值VSWRn，所述公式4为：