[发明专利]一种可编程设备电源的上下电方法

说明书

本发明公开了一种可编程设备电源的上下电方法，可编程设备电源包括DPS芯片、驱动电路、采样电路、屏蔽电路和接地电路，所述DPS芯片通过驱动电路连接测试芯片；当可编程设备电源上电时，采样电路、接地电路和驱动电路依次导通之后，DPS芯片再输出驱动电压；当可编程设备电源下电时，DPS芯片停止输出驱动电压，采样电路、接地电路和驱动电路再依次断开。本发明提供的一种可编程设备电源的上下电方法，通过合理配置可编程设备电源的上下电顺序，确保上下电波形单调、无台阶、无回沟，无过冲，进而提高测试芯片良率。

技术领域

本发明属于ATE测试领域，具体属于一种可编程设备电源的上下电方法。

背景技术

可编程设备电源(Programmable device power supply)应用于半导体自动化测试系统(Automatic test equipment，ATE)领域，为测试芯片DUT提供电源。可编程设备电源包括DPS芯片、驱动电路、采样电路、屏蔽电路和接地电路；驱动电路用于输出驱动电压，采样电路用于采集驱动电路输出的电压并反馈至DPS芯片进行分析，屏蔽电路用于对采样电路进行屏蔽，确保采样电路不受外界辐射影响，接地电路用于将可编程设备接近端地或者接远端地。

在可编程设备电源上下电过程中，因为上述各个电路的导通顺序不统一，通常会出现上下电输出波形有台阶，有过冲的现象。例如在远端采样时，若采样电路先于驱动电路导通，则DPS芯片输出后无法采样到远端电压，会先开环输出产生台阶，后加压输出产生上冲；又例如在驱动电压输出过程中若开启附加电容，驱动电路中负载电容的加大会导致波形下拉产生回沟。因此，目前可编程设备电源的上下电过程存在单调性和过冲问题，会造成测试芯片损坏，进而使得测试芯片良率下降，造成了巨大的经济损失。

发明内容

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种可编程设备电源的上下电方法，通过合理配置可编程设备电源的上下电顺序，确保上下电波形单调、无台阶、无回沟，无过冲，进而提高测试芯片良率。

为了实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种可编程设备电源的上下电方法，可编程设备电源包括DPS芯片、驱动电路、采样电路、屏蔽电路和接地电路，所述DPS芯片通过驱动电路连接测试芯片；当可编程设备电源上电时，采样电路、接地电路和驱动电路依次导通之后，DPS芯片再输出驱动电压；当可编程设备电源下电时，DPS芯片停止输出驱动电压，采样电路、接地电路和驱动电路再依次断开。

进一步的，所述驱动电路包括第一驱动开关；采样电路包括近端采样开关和远端采样开关，所述远端采样开关位于近端采样开关靠近输出端的一侧；接地电路包括接地开关，当接地开关闭合时，DPS芯片接近端地，当接地开关断开时，DPS芯片接远端地。

进一步的，当可编程设备电源进行上电时，包括如下步骤：

S01：DPS芯片初始化配置；

S02：近端采样开关闭合；

S03：接地开关闭合；

S04：配置屏蔽电路参数；

S05：DPS芯片输出0V电压；

S06：第一驱动开关闭合；

S07：DPS芯片输出驱动电压。

进一步的，所述驱动电路还包括第二驱动开关，所述第二驱动开关位于第一驱动开关靠近输出端的一侧，所述第二驱动开关一端连接所述第一驱动开关的一端，另一端连接附加电容；

所述步骤S05之后还包括步骤S051：根据驱动电压大小判断是否需要闭合第二驱动开关；并根据判断结果选择是否闭合第二驱动开关，之后再进入步骤S06。