[发明专利]光学系统主光轴的调试方法

权利要求书

1.一种光学系统主光轴的调试方法，用于不包含测试板的光学系统，其特征在于，包括：

S11，使用辅助小孔辅助调节自准直仪(200)出射光束的方向并使之与光学平台(001)平行；

S12，调节第一转向光学元件(301)，使其出射光束的方向与所述自准直仪(200)出射光束的方向垂直；

S13，调节第二转向光学元件(302)，使其出射光束的方向与所述第一转向光学元件(301)出射光束的方向垂直且与所述光学平台(001)平行；

S14，安装待测光学系统(100)的外壳(102)至所述第一转向光学元件(301)和所述第二转向光学元件(302)之间，安装第一反射元件(501)至主光轴(101)靠近所述第二转向光学元件(302)的一端；

S15，调节所述外壳(102)两侧的调节机构(103)、(104)，直至经所述第一反射元件(501)反射的光斑与所述自准直仪(200)出射的光斑重合，确定所述待测光学系统(100)的主光轴(101)的位置。

2.根据权利要求1所述的光学系统主光轴的调试方法，其特征在于，还包括：

S16，安装所述待测光学系统(100)内部的光学部件，根据所述自准直仪(200)测量得到的偏差，调节所述光学部件的位置，使得所述偏差小于预设阈值，主光轴(101)调试完成。

3.根据权利要求1所述的光学系统主光轴的调试方法，其特征在于，所述S11包括：

使用第一辅助小孔(401)、第二辅助小孔(402)、第三辅助小孔(403)辅助调节所述自准直仪(200)出射光束的方向并使之与光学平台(001)平行；其中，所述第一辅助小孔(401)设置于所述自准直仪(200)的光束出口处，所述第二辅助小孔(402)、所述第三辅助小孔(403)与所述自准直仪(200)的光轴等高。

4.根据权利要求3所述的光学系统主光轴的调试方法，其特征在于，所述S12包括：

安装所述第一转向光学元件(301)至标称位置处，至少部分光经过所述第一转向光学元件(301)的入射直角面反射回到所述自准直仪(200)；

调节所述第一转向光学元件(301)，使其反射回到所述自准直仪(200)的光斑与所述自准直仪(200)出射的光斑重合，则所述第一转向光学元件(301)出射光束的方向与所述自准直仪(200)出射光束的方向垂直。

5.根据权利要求4所述的光学系统主光轴的调试方法，其特征在于，所述S13包括：

安装所述第二转向光学元件(302)至所述第一转向光学元件(301)的上方，改变所述第二辅助小孔(402)和所述第三辅助小孔(403)的位置，使用第一辅助小孔(401)、第二辅助小孔(402)、第三辅助小孔(403)辅助调节所述第二转向光学元件(302)出射光束的方向并使之与光学平台(001)平行；

其中，第一辅助小孔(401)设置于所述自准直仪(200)的光束出口处，所述第二辅助小孔(402)、所述第三辅助小孔(403)与所述第二转向光学元件(302)的光轴等高。

6.根据权利要求5所述的光学系统主光轴的调试方法，其特征在于，所述第一辅助小孔(401)、第二辅助小孔(402)、第三辅助小孔(403)为毫米级机械小孔；所述第一转向光学元件(301)、第二转向光学元件(302)为平面反射镜、直角棱镜、五角棱镜中的一种；所述第一反射元件(501)为平面反射镜、平晶、分划板中的一种。