[发明专利]熔断检测装置、熔断检测方法及计算机程序在审
| 申请号: | 202180053444.X | 申请日: | 2021-07-21 | 
| 公开(公告)号: | CN116056953A | 公开(公告)日: | 2023-05-02 | 
| 发明(设计)人: | 泽野峻一 | 申请(专利权)人: | 株式会社自动网络技术研究所;住友电装株式会社;住友电气工业株式会社 | 
| 主分类号: | B60R16/02 | 分类号: | B60R16/02 | 
| 代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 赵晶;李范烈 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 熔断 检测 装置 方法 计算机 程序 | ||
1.一种熔断检测装置,检测在多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器,所述多个熔断器分别配置于从直流电源的一端分流的多个电流路径,其中,
所述熔断检测装置具备:
多个电容器,连接于所述多个熔断器各自的下游侧的一端;
电路开关和电路电阻,被输入经由所述多个电容器流动的多个电流;及
处理部,执行处理,
所述处理部指示所述电路开关的向接通的切换,
所述处理部取得在所述电路开关为接通的状态下随着时间的经过而下降的所述电路电阻的两端之间的电阻电压的检测值,
所述处理部基于取得的检测值来检测在所述多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器。
2.根据权利要求1所述的熔断检测装置,其中,
所述处理部在所述电路开关为接通的状态下随时间推移而取得所述电阻电压的检测值,
所述处理部基于取得的多个检测值来决定所述电阻电压的时间常数,
所述处理部基于决定的时间常数来检测在所述多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器。
3.根据权利要求2所述的熔断检测装置,其中,
所述处理部判定所述直流电源的电源电压在所述多个检测值的取得期间是否发生了变化。
4.根据权利要求2或3所述的熔断检测装置,其中,
所述处理部将取得的多个检测值向已学习模型输入,所述已学习模型学习了所述电阻电压的多个检测值与所述电阻电压的时间常数之间的关系,
所述处理部基于所述已学习模型的输出来决定所述电阻电压的时间常数。
5.根据权利要求1所述的熔断检测装置,其中,
所述处理部取得所述直流电源的电源电压值,
所述处理部取得从所述电路开关切换为接通起经过了规定时间的时间点的所述电阻电压的检测值,
所述处理部基于取得的电源电压值及检测值来检测在所述多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器。
6.根据权利要求5所述的熔断检测装置,其中,
所述处理部判定所述直流电源的电源电压从指示所述电路开关的向接通的切换起至经过所述规定时间为止是否发生了变化。
7.根据权利要求1~6中任一项所述的熔断检测装置,其中,
所述熔断检测装置具备:
二极管,将阳极连接于所述直流电源的一端;及
放电开关及放电电阻,流过有从所述二极管的阴极输出的电流,
在所述放电开关为接通的情况下,电流从所述电容器的一端按照所述熔断器、二极管、所述放电电阻及所述电容器的另一端的顺序流动。
8.根据权利要求1~6中任一项所述的熔断检测装置,其中,
所述熔断检测装置具备:
多个二极管,将阳极连接于所述多个熔断器各自的下游侧的一端;及
放电开关及放电电阻,流过有从多个二极管的阴极输出的电流,
在所述放电开关为接通的情况下,电流从所述电容器的一端按照所述二极管、所述放电电阻及所述电容器的另一端的顺序流动。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的熔断检测装置,其中,
所述处理部基于取得的检测值是否表示0V来判定所述多个熔断器是否全部熔断。
10.一种熔断检测方法,由计算机利用电路检测在多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器,所述电路包含:多个电容器,与所述多个熔断器各自的下游侧的一端连接,所述多个熔断器分别配置于从直流电源的一端分流的多个电流路径;及电路开关和电路电阻,被输入经由所述多个电容器流动的多个电流,其中,
所述计算机执行如下步骤:
指示所述电路开关的向接通的切换;
取得在所述电路开关为接通的状态下随着时间的经过而下降的所述电路电阻的两端之间的电阻电压的检测值;及
基于取得的检测值,来检测在所述多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器。
11.一种计算机程序,利用电路检测在多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器,所述电路包含:多个电容器,与所述多个熔断器各自的下游侧的一端连接,所述多个熔断器分别配置于从直流电源的一端分流的多个电流路径;及电路开关和电路电阻,被输入经由所述多个电容器流动的多个电流,其中,
所述计算机程序用于使计算机执行如下步骤:
指示所述电路开关的向接通的切换;
取得在所述电路开关为接通的状态下随着时间的经过而下降的所述电路电阻的两端之间的电阻电压的检测值;及
基于取得的检测值,来检测在所述多个熔断器之中是否存在熔断的熔断器。
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