[发明专利]位置检测装置在审
| 申请号: | 202180046249.4 | 申请日: | 2021-05-28 |
| 公开(公告)号: | CN115735099A | 公开(公告)日: | 2023-03-03 |
| 发明(设计)人: | 吉冈崇元;菅野隆行 | 申请(专利权)人: | 美德龙有限公司 |
| 主分类号: | G01D5/245 | 分类号: | G01D5/245 |
| 代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 袁波;刘继富 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 位置 检测 装置 | ||
本发明提供一种寿命长且能够高精度、稳定地进行位置检测的位置检测装置。位置检测装置(1)具有磁铁(40),其构成为与活动体(2)一起在沿着X方向延伸的移动路径(M)上移动。磁铁(40)在Z方向上具有不同的磁极(41、42)。位置检测装置(1)具有在Z方向上从移动路径(M)离开相等的距离并且配置在距沿Z方向延伸的基准线(S)相等的距离处的一对磁传感器(21、22)。磁传感器(21、22)具有相同的传感器特性。位置检测装置(2)具有检测部(30),其构成为在磁传感器(21、22)的两者的输出变化率的绝对值大致为最大的状态下检测到磁铁(40)位于基准线(S)上。
技术领域
本发明涉及一种位置检测装置,尤其涉及检测活动体的位置的位置检测装置。
背景技术
例如,在如加工中心那样的机床中,为了实现准确的加工,需要检测工具的初始位置。作为对被这样的工具等检测对象移动的活动体的位置进行检测的位置检测装置,已知有与活动体的移动对应地使电触点机械地通断的装置(例如,参照专利文献1)。
但是,在这样的现有技术的位置检测装置中存在如下问题:由于反复实施机械地通断而导致触点劣化,因此寿命短。此外,还存在由于混入异物或形成氧化膜而产生触点之间的导通不良,或者由于反复接触造成的触点的磨损、凹陷等从而导致检测精度下降的问题。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2008-183699号公报。
发明内容
发明要解决的问题
本发明是鉴于这样的现有技术的问题而完成的,其目的在于,提供一种寿命长且能够高精度、稳定地进行位置检测的位置检测装置。
用于解决问题的方案
根据本发明的一个方面,可提供一种寿命长且能够高精度、稳定地进行位置检测的位置检测装置。该位置检测装置具有磁铁,所述磁铁构成为与活动体一起在沿着第一方向延伸的移动路径上移动。该磁铁在与上述第一方向垂直的第二方向上具有不同的磁极。此外,上述位置检测装置具有一对磁传感器,所述一对磁传感器在上述第二方向上从上述移动路径离开相等的距离并且配置在距沿上述第二方向延伸的基准线相等的距离处。上述一对磁传感器具有相同的传感器特性。上述位置检测装置具有检测部,所述检测部构成为在上述一对磁传感器的两者的输出变化率的绝对值大致为最大的状态下检测到上述磁铁位于上述基准线上。
附图说明
图1是表示本发明的实施方式的位置检测装置的结构的示意图。
图2是表示本发明的实施方式的磁铁的位置与磁传感器的输出的关系的图表。
图3是表示本发明的实施方式的磁传感器的输出由温度引起的变化的图表。
图4是表示本发明的实施方式的磁铁的形状与最大磁通量的关系的图表。
图5是表示本发明的实施方式的磁铁的厚度与磁通密度的关系的图表。
图6是表示本发明的实施方式的磁传感器的轨道偏离与磁铁的位置关系的图。
图7是表示本发明的实施方式的轨道方向的磁传感器的偏差与输出分布的关系的图表。
图8是表示本发明的实施方式的磁铁的位置与磁传感器的输出变化率的关系的图表。
图9是表示本发明的实施方式的磁传感器与磁铁的距离(间隔)和磁通密度的关系的图表。
图10是表示本发明的实施方式的以检出点为中心的X方向的距离和输出的关系的图表。
图11是表示本发明的实施方式的以检出点为中心的X方向的距离与输出变化率的实测值的关系的图表。
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