[发明专利]位移传感器及电子乐器在审
| 申请号: | 202180021497.3 | 申请日: | 2021-03-18 |
| 公开(公告)号: | CN115298510A | 公开(公告)日: | 2022-11-04 |
| 发明(设计)人: | 石井润;田之上美智子 | 申请(专利权)人: | 雅马哈株式会社 |
| 主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00;G01B7/14;G10H1/34 |
| 代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 何立波;张天舒 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 位移 传感器 电子乐器 | ||
位移传感器具有:被检测部,其设置于与操作相对应地进行位移的可动部件,包含第1线圈;以及信号生成部,其包含与第1线圈相对的第2线圈,生成与第1线圈和第2线圈之间的相对位置相对应的检测信号,第1方向的第1线圈的外形尺寸和与第1方向相正交的第2方向的第1线圈的外形尺寸在俯视观察时不同。
技术领域
本发明涉及一种位移传感器及电子乐器。
背景技术
以往,例如提出有用于对键盘乐器的键等可动部件的位移进行检测的各种技术。在专利文献1中公开了如下结构,即,利用在键盘乐器的框架设置的线圈和在各键设置的金属板,对各键的位置进行检测。在该结构中,如果由于按键而金属板进行位移,则在线圈流动的电流发生变化。通过对在线圈流动的电流进行检测,从而生成反映出按键的位移的检测信号。
专利文献1:日本特开平3-48295号公报
发明内容
但是,在专利文献1的技术中,难以生成高精度地反映出可动部件的位移的检测信号。考虑到这样的情况,本发明的一个方式的目的在于,生成高精度地反映出可动部件的位移的检测信号。
为了达到上述目的,本发明的一个方式涉及的位移传感器包含:被检测部,其设置于与操作相对应地进行位移的可动部件,包含第1线圈;信号生成部,其包含与所述第1线圈相对的第2线圈,生成与所述第1线圈和所述第2线圈之间的相对位置相对应的检测信号,第1方向的所述第1线圈的外形尺寸和与所述第1方向相正交的第2方向的所述第1线圈的外形尺寸在俯视观察时不同。
本发明的其他方式涉及的位移传感器具有:被检测部,其设置于与操作相对应地进行位移的可动部件,包含第1线圈;以及信号生成部,其包含与所述第1线圈相对的第2线圈,生成与所述第1线圈和所述第2线圈之间的相对位置相对应的检测信号,所述第1线圈具有通过针对该第1线圈的电流供给而产生相互朝向相反方向的磁场的第1部分及第2部分,所述第2线圈具有通过针对该第2线圈的电流供给而产生相互朝向相反方向的磁场的第3部分及第4部分,所述第1部分的中心和所述第2部分的中心之间的第1距离大于所述第3部分的中心和所述第4部分的中心之间的第2距离。
附图说明
图1是表示应用了一个方式涉及的位移传感器的键盘乐器的结构的一个例子的框图。
图2是表示键盘乐器的结构的一个例子的框图。
图3是表示位移传感器的要部的电路的图。
图4是例示出信号处理电路的一个例子的框图。
图5是表示被检测部的具体结构的俯视图。
图6是图5的A-a线的剖视图。
图7是由被检测部的第1线圈产生的磁场等的说明图。
图8是例示出信号生成部的具体结构的俯视图。
图9是图8的B-b线的剖视图。
图10是由信号生成部的第2线圈产生的磁场的说明图。
图11是例示出第1线圈和第2线圈之间的位置关系的图。
图12是表示对比例涉及的被检测部的结构的俯视图。
图13是表示对比例涉及的被检测部的结构的俯视图。
图14是表示检测信号的输出特性的一个例子的图。
图15是表示检测信号的输出特性的一个例子的图。
图16是表示检测信号的输出特性的一个例子的图。
图17是表示检测信号的输出特性的一个例子的图。
图18是应用了变形例涉及的位移传感器的图。
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