[发明专利]光像素投射模块在审
申请号: | 202180012845.0 | 申请日: | 2021-02-05 |
公开(公告)号: | CN115053148A | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 马西莫·卡塔尔多·马齐洛;约翰·拉姆琴科;扬·马费尔德 | 申请(专利权)人: | AMS-欧司朗国际有限公司 |
主分类号: | G01S17/88 | 分类号: | G01S17/88;G01S17/42;G01S17/89;G01S7/481;G02B26/10;G02B26/08;H04N9/31 |
代理公司: | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人: | 孙静;谢攀 |
地址: | 德国雷*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 投射 模块 | ||
1.一种用于集成到电子装置中的光像素投射模块(1300),所述光像素投射模块(1300)适于发射要被投射到表面(S)上的光像素(P),所述光像素投射模块(1300)包括:
-包含像素光源的光像素生成组件(1302);
-光像素投射组件(1304),用于投射由所述光像素生成组件生成的光像素(P);和
-光学飞行时间ToF测量组件(1306),用于测量所述投射模块(1300)和外部物体(O)之间的距离,所述ToF测量组件(1306)包括:
a)用于发射光的ToF光源(1322),该光源将被引导到所述外部物体(O)并从所述外部物体反射;
b)分束光学装置(1304),用于将入射光束(IL)分成反射主光束分量(ILm)和透射衰减的次光束分量(ILs);和
c)用于光检测的基于APD的ToF光电检测器(1324);
其特征在于,所述分束光学装置(1304)设置在所述ToF光源(1322)所发射的光束(IL)的光路中,使得其将所述ToF光源所发射的每一光束(IL)分为:
i)离开所述模块(1300)并朝向所述外部物体(O)前进的主光束分量(ILm);和
ii)留在所述模块(1300)内并撞击所述ToF光电检测器(1324)的次光束分量(ILs)。
2.根据权利要求1所述的投射模块(1300),其中所述分束光学装置(1304)是层堆叠,其上镜面部分(1318)用作主要反射镜,下光衰减部分(1320)设置在所述上镜面部分的下方。
3.根据权利要求2所述的投射模块(1300),其中,所述层堆叠(1304)沉积在所述ToF光电检测器(1324)的有效表面区域上。
4.根据权利要求2或3所述的投射模块(1300),其中,所述上镜面部分(1318)是光学长通滤光器,其截止波长高于所述ToF光源(1322)发射的光束(IL)的最大波长,使得由所述分束光学装置(1304)分开的光束的次光束分量(ILs)不超过所述光束的总强度的5%。
5.根据权利要求2至4中任一项所述的投射模块(1300),其中,所述下光衰减部分(1320)为中性密度滤光器,优选其分数透射率不超过0.01%。
6.根据上述权利要求中任一项所述的投射模块(1300),其中,所述分束光学装置(1304)还用作所述光像素投射组件。
7.根据上述权利要求中任一项所述的投射模块(1300),还包括封装(1348),其容纳所述投射模块(1300)的元件,所述ToF光源(1322)和所述ToF光电检测器(1324)因此共享同一个封装。
8.根据上述权利要求中任一项所述的投射模块(1300),还包括用于检测所述像素光源(1302)和/或所述ToF光源(1322)的辐照度漂移的光电检测器组件(1308)。
9.根据权利要求8所述的投射模块(1300),其中,所述光电检测器组件(1308)包括一个或多个硅光电倍增管(1332)。
10.根据权利要求8或9所述的投射模块(1300),其中,所述分束光学装置(1304)覆盖所述光电检测器组件(1308)和所述ToF光电检测器(1324)二者。
11.根据上述权利要求中任一项所述的投射模块(1300),其中,所述ToF光电检测器(1324)包括至少一个单光子雪崩二极管或SPAD。
12.根据权利要求11所述的投射模块(2300),其中,所述ToF光电检测器(2324)由单个SPAD组成,所述ToF测量组件还包括ToF光扫描装置(2500),用于扫描所述外部物体(O)上的主光束分量(ILm)以获得其3D图像。
13.一种用于将像素化图像投射到表面(S)上的图像投射装置(1315),所述图像投射装置(1315)包括根据前述权利要求中任一项所述的投射模块(1300)和用于将所述投射模块投射的光像素(P)分布到所述表面(S)的不同部分的光扫描模块(1313),从而创建像素化图像。
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