[发明专利]用于测量物品的表面的不平坦性的测量装置

权利要求书

1.一种用于对物品的表面的形状进行表征的测量装置（40），所述测量装置包括：

- 框架，其包括保持框架（44），

- 三个或更多个探针（41a-41j）的第一集合，其可移动地被保持于所述保持框架中，每个探针具有用于接触所述物品的所述表面的相应的探针端（43a-43j）；以及

- 电子感测器件，其配置成为每个探针提供表示所述探针相对于所述保持框架的位置的相应的电信号，

所述装置进一步配置成引起确定表示所述表面的不平坦性的不平坦性信号，所述不平坦性信号表示1）通过探针的所述第一集合中的第一探针的所述探针端和探针的所述第一集合中的第二探针的所述探针端的直线与2）通过所述第二探针的所述探针端和探针的所述第一集合中的第三探针的所述探针端的直线之间的角度。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其中，每个探针连接到诸如弹簧之类的偏置器件（42a-42j），所述偏置器件（42a-42j）配置成使所述探针相对于所述保持框架偏置到对应的中性位置。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其中，每个探针连接到对应的偏置器件，并且每个偏置器件连接到配置成提供表示所述对应的偏置器件中的张力的对应的力传感器信号的对应的力传感器，并且其中，表示每个探针的所述位置的所述信号至少部分地基于所述对应的力传感器信号而确定。

4.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，配置成引起基于表示探针的所述第一集合中的至少两个探针的所述位置的所述电信号而确定表示所述表面的不平坦性的信号。

5.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，配置成引起至少基于以下项来确定表示所述表面的不平坦性的信号：1）表示所述探针中的两个探针相对于所述保持框架的所述位置的所述电信号和2）在测量期间在所述两个探针的所述探针端之间的最小距离。

6.根据权利要求3-5中的任一项所述的测量装置，配置成引起确定表示所述表面的所述不平坦性的所述信号是否满足不平坦性标准，并且在肯定的情况下，引起提供不平坦性指示。

7.根据权利要求6所述的测量装置，其中，所述不平坦性指示包括可听信号和/或视觉信号和/或振动信号。

8.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其中，探针的所述第一集合的至少子集布置在一维阵列中。

9.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其中，探针的所述第一集合的至少子集布置在二维阵列中。

10.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其中，每个探针通过超过与标准自由落体加速度g₀对应的力的摩擦力来可移动地被维持于相应的位置中。

11.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其中，所述框架还包括用于在获得表示所述探针相对于所述保持框架（44）的所述位置的所述电信号期间在所述物品的所述表面上支承所述测量装置的一个或多个固定或可固定支承腿（45a、45b）。

12.根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其中，所述装置配置成使得所述框架的重量超过在所述支承腿与所述表面的第二部分接触时，探针的所述第一集合能够施加于所述表面的第一部分上的最大总力。

13. 根据前述权利要求中的任一项所述的测量装置，其中，探针的所述第一集合的所述两个探针的探针端以至少10 cm，诸如至少20 cm的距离分离，探针之间的平均距离可选地处于范围0.5-1.5 cm内。