[发明专利]使用消融导管用于光学分析和预测损伤的系统

权利要求书

1.一种方法，包括：

通过将来自导管的能量施加到部分组织持续给定时间段来执行消融，其中，所述导管包括近侧段、包括多个光学端口的远侧段，以及耦合在所述近侧段和所述远侧段之间的护套；

使用所述导管中的至少一个光学端口从所述部分组织来获取光学测量数据；

通过使用耦合到所述导管的处理装置分析所述光学测量数据来识别所述部分组织的一个或多个光学特性；并且

基于所述部分组织的一个或多个光学特性来确定所述部分组织的变性时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，通过所述导管施加的能量包括脉冲电场、射频(RF)能量、激光能量或低温能量中的至少一个。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，光学测量数据包括从部分组织获取的光学相干断层扫描(OCT)信号或光学相干反射仪(OCR)信号，并且其中，所述一个或多个光学特性包括偏振或光谱信息中的至少一个。

4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

使用所述变性时间、所述一个或多个光学特性和所述给定时间段来创建表示损伤深度和消融时间之间的相关性的模型；并且

使用所述模型来生成所述给定时间段的预测损伤深度。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述预测损伤深度表示通过所述导管施加到所述部分组织的所述能量形成的损伤的深度和宽度中的至少一个。

6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述预测损伤深度是所述给定时间段与所述变性时间的比值的函数。

7.根据权利要求5所述的方法，进一步包括：

通过使用所述多个光学端口以相对于所述部分组织的多个不同角度获取所述光学测量数据来确定所述损伤的损伤进展，其中，每个光学端口以不同角度位于所述导管的远侧段中。

8.根据权利要求4所述的方法，还包括选择所述导管中的所述至少一个光学端口以用于所述光学测量数据的所述获取。

9.根据权利要求8所述的方法，其中，所述多个光学端口包括15个光学端口，并且所述至少一个光学端口包括三个或更多个光学端口。

10.根据权利要求9所述的方法，还包括：

基于识别从所述三个或更多个光学端口接收的光学信号，确定在所述消融期间与所述部分组织接触的所述导管的远侧段的部分；

基于所述确定，估计所述导管的远侧段的部分和所述部分组织之间的接触力；并且

进一步基于所述接触力，确定所述部分组织的变性时间。

11.一种系统，包括

导管，其包括近侧段、远侧段和耦合在所述近侧段和所述远侧段之间的护套；

多根光纤，其位于所述导管内；以及

计算装置，其通过连接器耦合到所述多根光纤，所述计算装置包括存储器和处理器，其被配置为：

在消融期间或之后从所述光纤接收部分组织的光学测量数据；

通过分析所述光学测量数据来识别所述部分组织的一个或多个光学特性；

基于所述部分组织的一个或多个光学特性来确定所述部分组织的变性时间；

使用所述变性时间、所述一个或多个光学特性和所述给定时间段来创建表示损伤深度和消融时间之间的相关性的模型；并且

使用所述模型来生成预定消融时间的预测损伤深度。

12.根据权利要求11所述的系统，其中，所述光学测量数据包括从所述部分组织获取的光学相干断层扫描(OCT)信号或光学相干反射仪(OCR)信号，并且其中，所述一个或多个光学特性包括偏振或光谱信息中的至少一个。