[发明专利]时间测量装置、时间测量方法和距离测量装置在审

专利信息
申请号: 202180008918.9 申请日: 2021-01-08
公开(公告)号: CN115004557A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 阿部敬之;斋藤雅史;园田高大 申请(专利权)人: 索尼半导体解决方案公司
主分类号: H03M1/14 分类号: H03M1/14;H03M1/56;H03K5/26;G01S7/4865;G01S17/36
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 时间 测量 装置 测量方法 距离
【说明书】:

提供了一种时间测量装置,包括:第一计数器单元(204),通过基于参考时钟信号进行计数来获取第一测量信号与第二测量信号之间的差时间作为第一测量结果;延迟信号生成单元(208),基于从第一计数器单元反馈的第一测量结果使第一测量信号延迟来生成延迟信号;测量单元(210),测量延迟信号与第二测量信号之间的差时间作为第二测量结果;以及运算单元(212),使用第一测量结果和第二测量结果来执行运算。

技术领域

本公开涉及一种时间测量装置、时间测量方法以及距离测量装置。

背景技术

作为用于测量到对象的距离的方法,飞行时间(ToF)传感器(距离测量设备)是已知的。例如,在ToF传感器是间接ToF传感器的情况下,ToF传感器利用具有预定周期的照射光照射对象,并检测照射光与从对象反射的反射光之间的相位差,从而可测量到对象的距离。虽然这种距离测量装置需要提高距离测量准确度,但是距离测量装置的距离测量准确度的提高存在限制。

因此,为了提高距离测量准确度,可想到通过时间测量装置测量在距离测量装置中生成的时间误差(例如,控制信号之间生成的时间差等)并且基于测量结果校正距离测量装置。例如,作为测量这种微小时间的时间测量装置,可以例示在下述专利文献1中公开的装置。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本专利申请公开号05-150056

专利文献2:日本专利申请公开号2011-254246

发明内容

本发明要解决的问题

然而,在上述专利文献1中公开的时间测量装置中,由于测量时间的分辨率是有限的,所以即使在使用时间测量装置对距离测量装置进行校正的情况下,在提高距离测量装置的距离测量准确度方面也存在限制。

因此,本公开提出了具有进一步提高的时间分辨率的时间测量装置和时间测量方法以及使用该时间测量装置的距离测量装置。

问题的解决方案

根据本公开,提供了一种时间测量装置,包括:第一计数器单元,通过基于参考时钟信号进行计数来获取第一测量信号与第二测量信号之间的差时间作为第一测量结果;延迟信号生成单元,通过基于从第一计数器单元反馈的第一测量结果延迟第一测量信号来生成延迟信号;测量单元,测量延迟信号与第二测量信号之间的差时间作为第二测量结果;以及运算单元,通过使用第一测量结果和第二测量结果执行运算。

此外,根据本公开,提供了一种时间测量方法,包括:通过基于参考时钟信号进行计数来获取第一测量信号与第二测量信号之间的差时间作为第一测量结果;基于已反馈的第一测量结果通过延迟第一测量信号来生成延迟信号;测量延迟信号与第二测量信号之间的差时间作为第二测量结果;并且利用第一测量结果和第二测量结果来执行运算。

此外,根据本公开,提供了一种作为包括时间测量装置的ToF距离测量装置的距离测量装置,该时间测量装置包括:第一计数器单元,通过基于参考时钟信号计数来获取第一测量信号与第二测量信号之间的差时间作为第一测量结果;延迟信号生成单元,通过基于从第一计数器单元反馈的第一测量结果延迟第一测量信号来生成延迟信号;测量单元,测量延迟信号与第二测量信号之间的差时间作为第二测量结果;以及运算单元,通过使用第一测量结果和第二测量结果执行运算。

附图说明

图1是示出根据本公开的实施方式的距离测量装置1的配置示例的框图。

图2是用于说明使用根据本公开的实施方式的距离测量装置1的距离计算方法的原理的说明图。

图3是用于说明相位误差θ的说明图。

图4是示出包括ADC的TV转换电路的配置示例的电路框图。

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