[发明专利]具有用于性能表征的专用发光二极管的系统

权利要求书

1.一种系统，包括：

多个第一发光二极管(LED)，所述多个第一LED中的每一个布置在二维LED阵列内的外周边区域；

多个第二LED，所述多个第二LED中的每一个布置在所述二维LED阵列内的内部区域；

第一可控电流源，其被配置为生成用于驱动所述多个第一LED中的第一第一LED和所述多个第二LED中的多个第一第二LED的第一偏置电流；

第一测量电路，其被配置成测量所述多个第一LED中的所述第一第一LED的第一电流-电压(I-V)性能特性；以及

透镜，其被布置成接收来自所述多个第二LED的光，其中：

所述第一偏置电流的性质根据所述第一测量电路对所述多个第一LED中的所述第一第一LED的所述第一I-V性能特性的至少两次测量来确定，

在将所述第一偏置电流施加到所述多个第一LED中的所述第一第一LED和所述多个第二LED中的所述多个第一第二LED时，获取所述多个第一LED中的所述第一第一LED的所述第一I-V性能特性的至少两个测量值，并且

在不同时间获取所述多个第一LED中的所述第一第一LED的所述第一I-V性能特性的所述至少两个测量值。

2.根据权利要求1所述的系统，还包括光圈，所述光圈防止来自所述多个第一LED的光到达所述透镜。

3.根据权利要求2所述的系统，其中，所述光圈包括：

i.布置在所述二维LED阵列和所述透镜之间的板，并且所述板具有使来自所述多个第二LED的光传递到所述透镜的开口；和/或

ii.在所述多个第一LED的发光表面上的油墨、涂料或金属中的至少一种。

4.根据权利要求1、权利要求2或权利要求3所述的系统，其中，所述多个第一LED布置在由所述透镜限定的视场之外。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统，还包括多个传感器，所述多个传感器被配置成测量从所述多个第一LED输出的光。

6.根据前述权利要求中任一项所述的系统，其中，对所述第一LED中的所述第一第一LED的所述第一I-V性能特性的至少两次测量包括在器件制造完成时进行的第一测量和在接通所述器件时进行的第二测量；并且优选地，其中对所述第一LED中的所述第一第一LED的所述第一I-V性能特性的至少两次测量还包括在关断所述器件之后进行的第三测量；并且优选地，其中对所述第一LED中的所述第一第一LED的所述第一I-V性能特性的至少两次测量还包括在所述第二测量和所述第三测量之间进行的多个第四测量，其中所述多个第四测量具有随时间减小的频率。

7.根据前述权利要求中任一项所述的系统，还包括：

多个第二测量电路，所述多个第二测量电路被配置成测量所述多个第一LED中的多个第二第一LED的多个第二电流-电压(I-V)性能特性；其中：

所述第一可控电流源被配置成生成用于驱动所述多个第一LED中的每个第一LED和所述多个第二LED中的每个第二LED的第一偏置电流，

所述第一偏置电流的性质根据所述第一测量电路对所述多个第一LED中的所述第一第一LED的所述第一I-V性能特性的至少两次测量以及所述多个第二测量电路对所述多个第一LED中的所述多个第二第一LED的所述多个第二I-V性能特性中的每一个的至少两次测量来确定，

在将所述第一偏置电流施加到所述多个第一LED中的所述多个第二第一LED和所述多个第二LED时，获取所述多个第一LED中的所述多个第二第一LED的所述多个第二I-V性能特性中的每一个的至少两个测量值，并且

在不同时间获取所述多个第一LED中的所述第二第一LED的所述多个第二I-V性能特性中的每一个的至少两个测量值；并且优选地，其中所述第一偏置电流的性质被确定为所述第一测量电路对所述多个第一LED中的所述第一第一LED的第一I-V性能特性的至少两个测量值和所述多个第二测量电路对所述多个第一LED中的所述多个第二第一LED的多个第二I-V性能特性中的每一个的至少两个测量值的平均值。