[实用新型]一种缩短白场测试距离的测试架

说明书

本申请提供了一种缩短白场测试距离的测试架，包括下盖、上盖、转接板和探针，下盖和上盖之间设置有摄像头，下盖的顶端设置有抬升机构，抬升机构用于调节摄像头镜头的位置。本申请通过设置的抬升机构，在抬升机构对作用下，将摄像头的镜头高于摄像头的连接器，使摄像头的连接器、探针和转接板这一部分的结构整体下移，使摄像头镜头相对于测试架更为突出，缩短了其与光源面板的距离，可减小摄像头捕捉到光源面板的面积或将光源面板的距离尽量移出镜头景深范围，从而减少摄像头测试污点时误判，只捕捉摄像头内部的污点，无需经常频繁清洁或更换光源面板，减少误判，节省了时间，提高了效率。

技术领域

本实用新型涉及摄像头技术领域，具体而言，涉及一种缩短白场测试距离的测试架。

背景技术

针对中国实用新型专利公开的一种摄像模组影像测试架，其内容为“包括与待检测摄像模组配套的壳体；设置于壳体的底板PCB；其中，底板PCB包括第一转接口和第二转接口；第一转接口与影像测试仪的测试端口相连，第一转接口与第二转接口相连通；设置有与第二转接口相连的第三转接口及与待检测摄像模组的输出端相连的第四转接口的转接装置；其中，第三转接口和第四转接口相连通且位于转接装置的相对面，转接装置的第三转接口所在面与底板PCB相贴合。应用本实用新型实施例所提供的摄像模组影像测试架，不同型号的摄像模组可以共用一个底板PCB进行影像测试，较大地节约了成本，降低了接线的出错率，提高了测试效率”。

但在实际使用的过程中仍有不足，在摄像头产品功能测试时，部分视场角超过一百度的产品，因为镜头景深长，在白场检测脏污时，容易捕捉到白场光源面板上的细微脏污，将其识别误判为摄像头内部的污点，导致误判模组的功能不良，为避免此问题，经常需要频繁清洁或更换光源面板，以减少误判。因此我们对此做出改进，提出一种缩短白场测试距离的测试架。

发明内容

本实用新型的目的在于：针对目前存在的部分视场角超过一百度的产品，因为镜头景深长，在白场检测脏污时，容易捕捉到白场光源面板的上的细微脏污，将其识别误判为摄像头内部的污点，导致误判模组的功能不良。

为了实现上述发明目的，本实用新型提供了以下技术方案：

缩短白场测试距离的测试架，以改善上述问题。

本申请具体是这样的：

包括下盖、上盖、转接板和探针，所述下盖和上盖之间设置有摄像头，所述下盖的顶端设置有抬升机构，所述抬升机构用于调节摄像头镜头的位置。

作为本申请优选的技术方案，所述抬升机构为与下盖固定连接的支撑板，所述摄像头的镜头位于支撑板顶端的一侧，且支撑板顶端的另一侧为倾斜设置，所述摄像头的连接器与探针连接。

作为本申请优选的技术方案，所述下盖与抬升机构之间设置有调节组件。

作为本申请优选的技术方案，所述调节组件由升降机构和转动机构组成。

作为本申请优选的技术方案，所述升降机构由第一限位部和第二限位部组成。

作为本申请优选的技术方案，所述第一限位部由螺纹杆和限位杆组成，所述下盖的底部内开设有开槽，所述螺纹杆转动连接在开槽的一侧，且限位杆固定安装在开槽的另一侧。

作为本申请优选的技术方案，所述第二限位部为限位板，所述限位板的一端与螺纹杆螺纹连接，且限位板的另一端与限位杆穿插连接，所述支撑板的底端穿入开槽并与限位板的顶端固定连接。

作为本申请优选的技术方案，所述转动机构包括第一齿轮，所述开槽一侧的顶端开设有传动槽，所述第一齿轮位于传动槽内，且第一齿轮与螺纹杆的顶端固定连接，所述第一齿轮啮合连接有第二齿轮，所述第二齿轮固定设有转轴。

作为本申请优选的技术方案，所述转轴内开设有卡槽，所述卡槽的顶端卡合有矩形块，所述矩形块的底端固定设有连接杆，所述连接杆的底端穿出转轴并固定设有转盘，且转盘与下盖的底端穿插连接。