[实用新型]测试装置

说明书

本实用新型提供了一种测试装置，测试装置包括：底座，具有放置部，放置部用于放置被测试件；检测组件，具有测试部，测试部对应放置部设置，测试部用于检测被测试件；传动组件，传动组件包括滑块、推杆以及第一弹性件，滑块可移动地设置在底座上，滑块具有避让孔，推杆具有连接端和驱动端，推杆的连接端可移动地设置在避让孔内，推杆的驱动端对应放置部设置，推杆用于推动被测试件移动至测试位置，第一弹性件设置在避让孔内；驱动件，与滑块驱动连接，驱动件通过滑块驱动推杆移动。通过本申请提供的技术方案，能够解决现有技术中的测试装置无法满足芯片的测试要求的问题。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种测试装置。

背景技术

在现有技术中，为了保证芯片的工作性能，需要将芯片漏极的翅片根部与PCB的输出端靠近以用于进行性能测试。但在现有方案中，性能测试是通过手动侧推芯片来与PCB的输出端靠近来实现的，如此无法保证芯片测试位置的准确性，同时也增加了测试时长和人工成本，从而导致现有的测试装置无法满足芯片的测试要求。

实用新型内容

本实用新型提供一种测试装置，以解决现有技术中的测试装置无法满足芯片的测试要求的问题。

本实用新型提供了一种测试装置，测试装置包括：底座，具有放置部，放置部用于放置被测试件；检测组件，具有测试部，测试部对应放置部设置，测试部用于检测被测试件；传动组件，传动组件包括滑块、推杆以及第一弹性件，滑块可移动地设置在底座上，滑块具有避让孔，推杆具有连接端和驱动端，推杆的连接端可移动地设置在避让孔内，推杆的驱动端对应放置部设置，推杆用于推动被测试件移动至测试位置，第一弹性件设置在避让孔内，第一弹性件的一端与避让孔的内壁抵接，第一弹性件的另一端与推杆抵接；驱动件，与滑块驱动连接，驱动件通过滑块驱动推杆移动。

进一步地，底座的上表面具有凹槽，凹槽形成放置部，凹槽的侧壁具有通孔，推杆的驱动端对应通孔设置，推杆的驱动端能够从通孔穿出并驱动被测试件移动。

进一步地，底座具有容纳腔，滑块可移动地设置在容纳腔内。

进一步地，容纳腔在滑块移动方向的尺寸大于滑块的行程。

进一步地，测试装置还包括：导向组件，设置在滑块和底座之间，导向组件用于对滑块导向。

进一步地，导向组件包括：导向件，固定在底座上，导向件的延伸方向与滑块的移动方向相同，滑块可移动地穿设在导向件上；第二弹性件，第二弹性件与滑块驱动连接，第二弹性件用于驱动滑块复位。

进一步地，传动组件还包括紧固件，紧固件设置在避让孔的远离放置部的一侧，第一弹性件的一端与紧固件抵接，第一弹性件的另一端与推杆抵接。

进一步地，滑块上并排设置有多个避让孔，传动组件包括多个推杆和多个第一弹性件，推杆与避让孔一一对应设置，每个避让孔内均设置有一个第一弹性件。

进一步地，驱动件包括气缸和驱动杆，驱动杆的一端与气缸连接，驱动杆的另一端与滑块驱动连接。

应用本实用新型的技术方案，在测试过程中，将被测试件放置在放置部上，通过驱动件与滑块、推杆配合可以将被测试件自动推动至测试位置，同时由于在滑块上的避让孔内设置有第一弹性件，将第一弹性件的一端与避让孔的内壁抵接，将第一弹性件的另一端与推杆抵接，如此使得推杆能够与被测试件弹性抵接，避免由于推杆侧推力过大而挤压被测试件，导致被测试件被损坏的情况发生，使传动组件能够适用于不同误差尺寸的被测试件，保证了不同误差的被测试件都能移动到测试位置，并且通过上述结构可实现自动推送，准确度较高，从而能够提高了装置的测试效率。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：