[实用新型]一种基于自主控制测试平台的硬件电路

说明书

本实用新型属于集成电路测试领域，尤其涉及一种基于自主控制测试平台的硬件电路，包括：一主控芯片，所述主控芯片通过一第一USB转串口电路连接一上位机；一第一复位电路，所述第一复位电路连接所述主控芯片，所述第一复位电路通过一第二USB转串口电路连接所述上位机；一第二复位电路，所述第二复位电路连接所述主控芯片，所述第二复位电路通过一第三USB转串口电路连接所述上位机。有益效果：实现了IC产品在被测试产品程序失调造成整个测试工作停滞的情况下能自动化复位，节约了IC产品测试消耗的时间和经济成本。

技术领域

本实用新型属于集成电路测试领域，尤其涉及一种硬件电路。

背景技术

近年来，集成电路广泛应用在各个领域，对于集成电路产品的需求呈几何级数的增长。新一代芯片不断地推陈出新，这使得测试芯片的任务越来越繁重，同时对测试要求也越来越高，但不同型号的芯片对应的测试环境要求又不尽相同，为了保证测试流程的稳定运行，自动复位电路为测试流程中不可或缺的一部分。

现今本领域存在的技术问题：当测试过得中被测试产品程序出现死机现象，若每次修改均通过人工手动去进行，则太过费时费力，同时时效性和测试强度不能满足芯片的测试要求，往往使得原定测试计划延后，最终导致部分芯片的问题没有量产前发现解决，留下缺陷。

实用新型内容

本实用新型提供一种基于自主控制测试平台的硬件电路，旨在解决上述本领域存在的，由于被测试产品在测试过程中程序失调，需要人工进行此IC产品的复位，从而影响IC产品测试流程的效率和高昂的时间、经济成本的问题。

一种基于自主控制测试平台的硬件电路，其特征在于，包括：

一主控芯片，所述主控芯片的通用异步总线传输单元第一端和通用异步总线传输单元第二端通过一第一USB转串口电路连接一上位机；

一第一复位电路，所述第一复位电路的控制端连接所述主控芯片的第一功率控制端，所述第一复位电路的通用异步总线传输单元第一端和通用异步总线传输单元第二端通过一第二USB转串口电路连接所述上位机；

一第二复位电路，所述第二复位电路的控制端连接所述主控芯片的第二功率控制端，所述第二复位电路的通用异步总线传输单元第一端和通用异步总线传输单元第二端通过一第三USB转串口电路连接所述上位机。

优选地，

所述主控芯片的第一电源端通过一第五电容和一第六电容连接所述主控芯片的第一公共接地端；

所述主控芯片的第二电源端通过一第七电容和一第八电容连接所述主控芯片的第二公共接地端。

优选地，所述第一复位电路包括：

一第一芯片；

一第一晶体管，所述第一晶体管的源极连接一第一电源电压，所述第一晶体管的栅极连接一第二晶体管的集电极，所述第一晶体管的漏极连接所述第一芯片的供电电源端；

所述第二晶体管的基极通过一第十八电阻连接所述主控芯片的第一功率控制端，所述第二晶体管的基极通过一第十九电阻连接所述第二晶体管的发射极，所述第二晶体管的发射极连接一接地端；

所述第一芯片的供电电源端通过一第三电阻和一第二发光二极管连接所述接地端。

优选地，所述第二复位电路包括：

一第二芯片；

一第三晶体管，所述第三晶体管的源极连接所述第一电源电压，所述第三晶体管的栅极连接一第四晶体管的集电极，所述第三晶体管的漏极连接所述第二芯片的供电电源端；

所述第四晶体管的基极通过一第二十电阻连接所述主控芯片的第二功率控制端，所述第四晶体管的基极通过一第二十一电阻连接所述第四晶体管的发射极，所述第四晶体管的发射极连接所述接地端；