[实用新型]一种输入信号采样装置

说明书

本实用新型提供了一种输入信号采样装置，包括采样单元和隔离单元，所述采样单元经隔离单元采样I/O输入信号，所述隔离单元包括第一光耦和第二光耦，所述第一光耦和所述第二光耦的输入端同向串联，所述第一光耦和所述第二光耦的输出端反向并联后与所述采样单元的输入端并联。本实用新型能够实现采样信号与I/O输入信号的电气隔离，降低周围环境对输入信号的干扰。

技术领域

本实用新型涉及信号采样技术领域，具体涉及一种输入信号采样装置。

背景技术

通常情况下，主机或CPU需要接收来自外部设备传来的输入信号，如图1所示，A1端与A2端连接，B1端与B2端连接，B1端接地，A/D采样电路11采样外部设备发送的I/O输入信号，当I/O输入信号为高电平时，Q1开关管导通，继电器12的触点吸合，A1端与B1端短接，A/D采样电路11采样B端电压为低电平；当I/O输入信号为低电平时，Q1开关管截止，继电器12的触点断开，A/D采样电路11采样A端电压为高电平。图1所示的输入信号采样电路结构虽然简单，但当外部设备处于环境较恶劣时，会存在较大的杂讯干扰，若这些干扰随I/O输入信号一起进入主机，会使控制准确性降低，产生误动作。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种输入信号采样装置，在采样单元与I/O输入信号之间增加了电气隔离，降低周围环境对输入信号的干扰，有效解决了在不清楚采样单元连接端电压高低的情况下，保证输入信号采样装置正常工作的问题。

为了实现上述目的，本实用新型主要采用以下技术方案：

一种输入信号采样装置，包括采样单元和隔离单元，所述采样单元经隔离单元采样I/O输入信号，所述隔离单元包括第一光耦和第二光耦，所述第一光耦和所述第二光耦的输入端同向串联，所述第一光耦和所述第二光耦的输出端反向并联后与所述采样单元的输入端并联。

进一步地，所述第一光耦的第一输入端与第一直流电源连接，所述第一光耦的第二输入端与第二光耦的第一输入连接，所述第二光耦的第二输入端串联第一开关。

进一步地，所述第一开关的控制端接收I/O输入信号。

进一步地，所述隔离单元还包括第一二极管和第二二极管，所述采样单元的第一端与第一二极管的阳极连接，所述第一二极管的阴极与所述第一光耦的第一输出端连接；所述采样单元的第二端与第二二极管的阳极连接，所述第二二极管的阴极与所述第二光耦的第一输出端连接。

进一步地，所述隔离单元还包括第一二极管和第二二极管，所述采样单元的第二端与第一二极管的阴极连接，所述第一二极管的阳极与所述第一光耦的第二输出端连接；所述采样单元的第一端与第二二极管的阴极连接，所述第二二极管的阳极与所述第二光耦的第二输出端连接。

进一步地，所述采样单元包括A/D采样电路、第一电阻和第二直流电源，所述第一电阻与第二直流电源串联后的一端作为采样单元的第一端，所述第一电阻与第二直流电源串联后的另一端作为采样单元的第二端，所述第一端与所述A/D采样电路的一输入端连接，所述第二端接地。

进一步地，所述第一开关为NPN型三极管或PNP型三极管。

进一步地，当所述第一开关导通时，所述采样单元采样得到低电平信号；当所述第一开关截止时，所述采样单元采样得到高电平信号。

本实用新型提供的一种输入信号采样装置，在采样单元与外部I/O输入信号之间连接了光耦，实现了电气隔离，降低周围环境对输入信号的干扰，抗干扰能力强，系统的控制精度和准确性均有提高。同时，本实用新型能够有效解决在不清楚采样单元连接端电压高低的情况下，保证输入信号采样装置正常工作的问题。本实用新型结构简单，易于实现。

附图说明