[实用新型]薄膜光电器件测量装置有效
申请号: | 202123278906.4 | 申请日: | 2021-12-23 |
公开(公告)号: | CN216646720U | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 王成;芦子哲 | 申请(专利权)人: | TCL科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R1/04;G01M11/02;G01Q60/24 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 刘茂源 |
地址: | 516006 广东省惠州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 薄膜 光电 器件 测量 装置 | ||
本申请提供一种薄膜光电器件测量装置,包括夹持组件,夹持组件用于夹持薄膜光电器件;功能组件,功能组件用于发出照射薄膜光电器件的光线或者接收薄膜光电器件的光线;其中,夹持组件与功能组件相邻设置,且夹持组件面向功能组件的一侧设置有暴露薄膜光电器件的透光区,以使得功能组件发出的光线经过透光区照射薄膜光电器件或者接收薄膜光电器件穿过透光区的光线。本申请解决了目前薄膜光电器件的内部物理信息难以测量的技术问题。
技术领域
本申请涉及半导体技术领域,具体涉及一种薄膜光电器件测量装置。
背景技术
薄膜光电器件是一种包括阳极层、阴极层、电子传输层、空穴传输层以及光电转换层的半导体器件,其可以实现光子与电流的相互转换,因此薄膜光电器件在太阳能电池、光电探测器、发光二极管、激光器等半导体技术领域广泛应用。然而,由于薄膜光电器件为层层堆叠的封闭结构,对于薄膜光电器件的内部物理信息(例如电势、界面能带分布)难以进行有效的测量。
实用新型内容
本申请提供一种薄膜光电器件测量装置,旨在解决目前薄膜光电器件的内部物理信息难以测量的技术问题。
第一方面,本申请提供一种薄膜光电器件测量装置,包括:
夹持组件,夹持组件用于夹持薄膜光电器件;
功能组件,功能组件用于发出照射薄膜光电器件的光线或者接收薄膜光电器件的光线;
其中,夹持组件与功能组件相邻设置,且夹持组件面向功能组件的一侧设置有暴露薄膜光电器件的透光区,以使得功能组件发出的光线经过透光区照射薄膜光电器件或者接收薄膜光电器件穿过透光区的光线。
在一些实施例中,夹持组件包括竖直设置的第一夹板以及第二夹板,薄膜光电器件位于第一夹板和第二夹板之间;
功能组件位于第一夹板相背于第二夹板的一侧,透光区位于第一夹持板上。
在一些实施例中,第二夹板与第一夹板铰接;
当第二夹板随铰接处转动至与第一夹板平行时,第一夹板和第二夹板之间的间距小于或等于薄膜光电器件的厚度。
在一些实施例中,第一夹板相对于第二夹板的一侧设置有第一导电板;和/或者
第二夹板相对于第一夹板的一侧设置有第二导电板。
在一些实施例中,功能组件包括功能支架以及位于功能支架上的光探测器;
光探测器与透光区相对设置,以测量薄膜光电器件的光线强度。
在一些实施例中,功能组件还包括设置于功能支架上的光纤,光纤具有第一工作模式以及第二工作模式;
当光纤处于第一工作模式时,光纤产生光线并照射薄膜光电器件;
当光纤处于第二工作模式时,光纤接收薄膜光电器件射出的光线。
在一些实施例中,还包括基座,夹持组件和功能组件位于基座上,基座上设置有第一正接线柱以及第一负接线柱;
第一正接线柱与薄膜光电器件的正极电连接,第一负接线柱与薄膜光电器件的负极电连接。
在一些实施例中,基座表面设有第一正接线槽和第一负接线槽;
第一正接线柱与薄膜光电器件的正极连接的电路线至少部分设置第一正接线槽内;
第一负接线柱与薄膜光电器件的负极连接的电路线至少部分设置第一正接线槽内。
在一些实施例中,基座上设置有第二正接线柱以及第二负接线柱;
第二正接线柱与功能组件的正极电连接,第二负接线柱与功能组件的负极电连接。
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