[实用新型]一种激光二极管芯片检测分拣装置有效

专利信息
申请号: 202123167856.2 申请日: 2021-12-16
公开(公告)号: CN216500863U 公开(公告)日: 2022-05-13
发明(设计)人: 胡华君 申请(专利权)人: 武汉智汇芯科技有限公司
主分类号: B07C5/34 分类号: B07C5/34;B07C5/02;B07C5/36;B08B5/02
代理公司: 武汉天领众智专利代理事务所(普通合伙) 42300 代理人: 杨建军
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 激光二极管 芯片 检测 分拣 装置
【权利要求书】:

1.一种激光二极管芯片检测分拣装置,包括通料板(1),其特征在于:所述通料板(1)的一侧设置有电磁滑轨(2),所述电磁滑轨(2)的外部设置有电磁滑块(3),所述电磁滑轨(2)的一侧设置有过渡板(4),所述过渡板(4)的顶部设置有两组过渡槽(5),所述过渡板(4)的内部设置有贯穿过渡板(4)并延伸至过渡槽(5)顶部的第一升降柱(6),所述电磁滑块(3)一侧的底部设置有支撑板(7),所述支撑板(7)的顶部设置有弹簧(8),所述弹簧(8)的顶部连接有下料板(9),所述过渡板(4)一侧的底部连接有第一竖板(10),所述第一竖板(10)的底部连接有横板(11),所述横板(11)顶部的另一侧设置有第二竖板(12),所述第一竖板(10)与第二竖板(12)的一侧设置有横槽(13),所述第二竖板(12)上的横槽(13)内部设置有放置板(14),所述第一竖板(10)的外侧安装有风机(15),所述第一竖板(10)的内侧设置有排风口(16),所述放置板(14)的内部设置有延伸至放置板(14)外部的第二升降柱(17),所述横板(11)的顶部设置有空心槽,所述空心槽的内部设置有移动块(18),所述移动块(18)的顶部与第二竖板(12)的底部固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种激光二极管芯片检测分拣装置,其特征在于,所述电磁滑块(3)底部的两侧设置有限位板,所述限位板与电磁滑轨(2)的侧边贴合。

3.根据权利要求1所述的一种激光二极管芯片检测分拣装置,其特征在于,所述通料板(1)为倾斜设计,所述通料板(1)的直径与电磁滑块(3)的直径等长。

4.根据权利要求1所述的一种激光二极管芯片检测分拣装置,其特征在于,所述电磁滑块(3)的顶部设置有挡板,所述挡板的数目为两组。

5.根据权利要求1所述的一种激光二极管芯片检测分拣装置,其特征在于,所述横槽(13)贯穿第二竖板(12),所述横槽(13)未贯穿第一竖板(10),所述第一竖板(10)上的横槽(13)与第二竖板(12)上的横槽(13)一一对应。

6.根据权利要求1所述的一种激光二极管芯片检测分拣装置,其特征在于,所述第二竖板(12)上每组横槽(13)的内部皆设置有放置板(14),所述放置板(14)与横槽(13)一一对应。

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