[实用新型]一种用于集成电路芯片测试的快换工装有效
申请号: | 202123065291.7 | 申请日: | 2021-12-08 |
公开(公告)号: | CN217017533U | 公开(公告)日: | 2022-07-22 |
发明(设计)人: | 庄渊胜;宋泉 | 申请(专利权)人: | 东莞市千颖电子有限公司 |
主分类号: | B07C5/344 | 分类号: | B07C5/344;B07C5/02;B07C5/36;H01L21/67 |
代理公司: | 东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803 | 代理人: | 郭佳 |
地址: | 523000 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 集成电路 芯片 测试 工装 | ||
1.一种用于集成电路芯片测试的快换工装,其特征在于:包括分离箱(1),所述分离箱(1)顶部固定有支撑座(2),所述支撑座(2)顶部的内侧固定安装有测试模块(3),所述分离箱(1)的顶部开设有与其内部相互连通的连接槽(4),所述分离箱(1)的相对侧面均开设有与其内部相互连通的出料槽(5),所述出料槽(5)内部固定有用于筛分后集成电路芯片滑出的滑板(6),所述分离箱(1)上安装有区分组件和上料组件,所述区分组件用于对测试模块(3)测试后的集成电路芯片进行筛分,所述上料组件用于集成电路芯片的暂时存储及上料。
2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片测试的快换工装,其特征在于,所述区分组件包括固定杆(7)、托板(8)和第一电推杆(10),所述固定杆(7)的两端通过轴承转动安装在分离箱(1)的相对内壁之间,所述固定杆(7)上套接有两连接块(9),且连接块(9)与固定杆(7)的结合处通过轴承转动连接,两所述连接块(9)均固定安装在托板(8)的底部,所述托板(8)设置在连接槽(4)的内部,所述第一电推杆(10)的底部固定安装在分离箱(1)的内部。
3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路芯片测试的快换工装,其特征在于,所述托板(8)下表面固定有U形座(11),所述第一电推杆(10)的输出端固定有套管(12),所述U形座(11)的相对内壁之间通过转轴与套管(12)转动连接。
4.根据权利要求2所述的一种用于集成电路芯片测试的快换工装,其特征在于,所述托板(8)的上表面固定有限位块(13),所述限位块(13)横截面为三角形结构。
5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片测试的快换工装,其特征在于,所述上料组件包括U形板(14)和第二电推杆(15),所述U形板(14)固定安装在分离箱(1)的顶部,所述第二电推杆(15)固定安装在分离箱(1)的侧面,所述第二电推杆(15)的输出端固定有固定板(16),所述固定板(16)上固定有推杆(17),所述推杆(17)另一端贯穿U形板(14)一侧后固定有顶块(18),且顶块(18)位于U形板(14)的相对内壁之间。
6.根据权利要求5所述的一种用于集成电路芯片测试的快换工装,其特征在于,所述U形板(14)上表面固定有料仓(19),所述料仓(19)的一侧开设有与其内部相互连通的调节槽(20)。
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