[实用新型]一种新型芯片检测用探针卡

说明书

本实用新型公开了一种新型芯片检测用探针卡，包括PCB板、设置于PCB板上的金属触点及若干与金属触点抵接的探针，所述PCB板上均布有若干连接孔，所述金属触点位于连接孔内，所述探针包括连接头与针体，所述连接头卡入连接孔内，所述PCB板上可拆卸设置有定位板，所述定位板上开设有供针体穿出的通槽。本实用新型提供的新型芯片检测用探针卡，可以实现探针的快速更换，且无需焊接，也有利于延长探针卡的使用寿命。

技术领域

本实用新型涉及探针卡技术领域，尤其是涉及一种新型芯片检测用探针卡。

背景技术

芯片在进行封装前，一般需要通过探针卡进行检测。探针卡是一种测试接口，通过传输信号对裸芯进行测试。而探针卡在进行测试时，探针会逐渐发生损耗甚至断裂，因此需要及时对探针进行更换，而目前探针经常是采用焊接的方式进行固定，更换极为困难。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提供一种新型芯片检测用探针卡，可以实现探针的快速更换，且无需焊接，也有利于延长探针卡的使用寿命。

本实用新型为了实现上述目的具体采用以下技术方案：

一种新型芯片检测用探针卡，包括PCB板、设置于PCB板上的金属触点及若干与金属触点抵接的探针，所述PCB板上均布有若干连接孔，所述金属触点位于连接孔内，所述探针包括连接头与针体，所述连接头卡入连接孔内，所述PCB板上可拆卸设置有定位板，所述定位板上开设有供针体穿出的通槽。

更进一步地，所述连接孔呈环形均布于PCB板上，所述针体远离连接头一端朝着连接孔围成的环形的中心延伸，所述通槽靠近连接孔围成的环形的中心方向一端开口设置。

更进一步地，所述连接孔内设置有沿竖直方向延伸的凸块，所述连接头上设置有与凸块适配的凹槽。

更进一步地，所述凸块位于连接孔靠近通槽的开口侧。

更进一步地，所述定位板上设置有若干第一螺纹孔，所述PCB板上设置有与第一螺纹孔适配的第二螺纹孔。

更进一步地，所述PCB板上设置有环形支撑板，所述环形支撑板上均布有若干供针体卡入的支撑槽。

更进一步地，所述定位板与环形支撑板均为绝缘材料制成。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型提供的新型芯片检测用探针卡，通过定位板对探针进行固定，在探针损坏需要更换时，直接拆下定位板即可快速对相应探针进行更换，而无需进行焊接，使得探针更换更为快捷方便，同时也能更好地保护探针，避免探针在焊接的过程中受损，延长探针的使用寿命。

附图说明

图1是探针卡立体结构示意图；

图2是探针卡优化结构示意图；

图3是定位板结构示意图；

图4探针与PCB板连接结构示意图；

图5是连接孔结构示意图；

图6是连接孔优化结构示意图；

附图标记：1-PCB板，2-探针，201-连接头，202-针体，3-定位板，4-通槽，5-环形支撑板，6-连接孔，7-金属触点，8-凸块。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“连通”应做广义理解，例如，可以是固定连通，也可以是可拆卸连通，或一体地连通；可以是机械连通，也可以是电连通；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

实施例