[实用新型]一种用于相控阵天线测试近场设备有效
| 申请号: | 202123020303.4 | 申请日: | 2021-12-03 |
| 公开(公告)号: | CN215415633U | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
| 发明(设计)人: | 彭科 | 申请(专利权)人: | 成都智芯雷通微系统技术有限公司 |
| 主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
| 代理公司: | 重庆坤源衡泰律师事务所 50255 | 代理人: | 桑洋洋 |
| 地址: | 610000 四川省成都市天*** | 国省代码: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 用于 相控阵 天线 测试 近场 设备 | ||
1.一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,包括屏蔽暗箱、上平台(1)、下平台(2)、探头驱动组件(3)、天线驱动组件(4)、矢量网络分析仪、红外探头(5)、近场测试探头(6)和工控机;
在所述上平台(1)上设置有通孔(7),所述探头驱动组件(3)设置在通孔(7)旁;在所述探头驱动组件(3)的移动端上设置有红外探头(5)和近场测试探头(6),所述红外探头(5)设置在近场测试探头(6)旁;在所述上平台(1)上罩设有屏蔽暗箱;
在所述上平台(1)的下方设置有下平台(2),所述天线驱动组件(4)设置在下平台(2)上,待测试天线安装在天线驱动组件(4)的移动端上;
所述近场测试探头(6)信号连接至矢量网络分析仪,所述矢量网络分析仪、探头驱动组件(3)、天线驱动组件(4)和红外探头(5)信号连接至工控机。
2.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,所述上平台(1)和下平台(2)通过安装支架(8)连接固定。
3.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,所述屏蔽暗箱为可拆卸结构,罩扣在安装上平台(1)上。
4.根据权利要求1-3任一所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,所述上平台(1)采用大理石平台。
5.根据权利要求1-3任一所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,在所述上平台(1)上铺设有吸波层(9)。
6.根据权利要求1-3任一所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,作为近场扫描平面的上平台(1)与作为待测试天线的下平台(2)相互平行。
7.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,所述探头驱动组件(3)包含Y轴移动部件(31)、X轴移动部件(32)、Z轴移动部件(33)和Y轴从动部件(34),所述Y轴移动部件(31)和Y轴从动部件(34)平行设置在上平台(1)的通孔(7)两侧;所述X轴移动部件(32)的一端由Y轴移动部件(31)驱动移动,X轴移动部件(32)的另一端在Y轴从动部件(34)上滑动;在X轴移动部件(32)的移动端上设置有Z轴移动部件(33),所述X轴移动部件(32)与Z轴移动部件(33)滑动连接;在所述Z轴移动部件(33)的移动端上设置有红外探头(5)和近场测试探头(6)。
8.根据权利要求7所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,所述Y轴移动部件(31)包括Y轴滑轨、Y轴滑块和Y轴电机,Y轴电机通过传动件驱动Y轴滑块沿Y轴滑轨移动,所述X轴移动部件(32)的端部设置在Y轴滑块上;
所述X轴移动部件(32)包括X轴滑轨、X轴滑块和X轴电机,X轴电机通过传动件驱动X轴滑块沿X轴滑轨移动,所述Z轴移动部件(33)设置在X轴滑块上;
所述Z轴移动部件(33)包括Z轴滑轨、Z轴滑块和Z轴电机,Z轴电机通过传动件驱动Z轴滑块沿Z轴滑轨移动,所述红外探头(5)和近场测试探头(6)设置在Z轴滑块上,且红外探头(5)和近场测试探头(6)对向下方;
所述Y轴从动部件(34)包括Y轴从动滑轨和Y轴从动滑块,所述X轴移动部件(32)的另一端部设置在Y轴从动滑块上,X轴移动部件(32)移动后带动Y轴从动滑块沿Y轴从动滑轨移动;
所述Y轴电机、X轴电机、Z轴电机与所述工控机通信连接。
9.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,所述天线驱动组件(4)包括步进移动装置(41)和伺服升降装置(42),所述步进移动装置(41)置于下平台(2)上,所述伺服升降装置(42)设置在步进移动装置(41)的移动端,在所述伺服升降装置(42)的升降端上设置有待测试天线安装台。
10.根据权利要求1所述的一种用于相控阵天线测试近场设备,其特征在于,还包括摄像头,在所述上平台(1)上方设置有摄像头。
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