[实用新型]一种陶瓷底片外观检测设备

权利要求书

1.一种陶瓷底片外观检测设备，其用于对陶瓷底片进行检测，其特征在于，包括：

机架；

两个纵向机构，两个所述纵向机构间隔设置于所述机架；

两个托料盘，两个所述托料盘一一对应设置于所述纵向机构；其中一个所述托料盘用于存放待检测的陶瓷底片，另一个所述托料盘用于存放已检测的陶瓷底片；

检测机构，所述检测机构设置于所述机架，且其位于两个所述纵向机构之间；所述检测机构用于检测陶瓷底片的外观和尺寸；

横向机构，所述横向机构设置于所述机架，且其位于所述检测机构上方；

取料机构，所述取料机构设置于所述横向机构；

其中，所述纵向机构用于驱动所述托料盘纵向移动；所述横向机构用于驱动取料机构横向运动；所述取料机构用于将陶瓷底片抓取至所述检测机构或托料盘。

2.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述纵向机构包括纵向驱动电机、直线模组和滑块，所述纵向驱动电机和所述直线模组分别设置于所述机架，所述纵向驱动电机与所述直线模组连接；所述滑块设置于所述直线模组，所述托料盘设置于所述滑块。

3.如权利要求2所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述托料盘设置有多个存放槽。

4.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述检测机构包括位于同一竖直线上且自上而下依次设置于所述机架的检测相机、第一检测光源、检测底座和第二检测光源。

5.如权利要求4所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述检测底座设置有用于吸附陶瓷底片的吸附工位，所述吸附工位与外部的吸附设备连接。

6.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述横向机构包括横向导轨和横向驱动机构，所述横向导轨设置于所述机架，所述横向驱动机构设置于所述横向导轨，所述取料机构设置于所述横向驱动机构，所述横向驱动机构其用于驱动所述取料机构沿所述横向导轨滑动。

7.如权利要求6所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述横向驱动机构包括第一横向驱动机构和第二横向驱动机构，所述取料机构包括第一取料机构和第二取料机构，所述第一取料机构设置于所述第一横向驱动机构，所述第二取料机构设置于所述第二横向驱动机构；其中，所述第一横向驱动机构用于驱动所述第一取料机构在其中一个所述托料盘和所述检测机构之间移动；所述第二横向驱动机构用于驱动所述第二取料机构在另一个所述托料盘和所述检测机构之间移动。

8.如权利要求6所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述横向驱动机构包括横向皮带、连接块和横向驱动电机；所述横向皮带与所述横向导轨平行且间隔的设置于所述机架，所述横向皮带的一端连接所述横向驱动电机；所述连接块设置于所述横向皮带；所述横向驱动电机设置于所述机架；所述取料机构滑动设置于所述横向导轨，且其与所述连接块连接。

9.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述取料机构的底部设置有吸附头，其用于吸附陶瓷底片。

10.如权利要求1所述的陶瓷底片外观检测设备，其特征在于：所述机架设置有透明的防护罩，所述防护罩开设有开关门。