[实用新型]一种测斜仪温度修正装置、测斜仪

说明书

本实用新型涉及一种测斜仪温度修正装置，包括：处理器；温度传感器，与所述处理器电性连接，所述温度传感器用于获取所述测斜仪温度影响装置的温度；加热模块，与所述处理器电性连接，当所述温度传感器监测的温度低于预设温度区间，所述加热模块工作使所述测斜仪温度影响装置升温；散热模块，与所述处理器电性连接，当所述温度传感器监测的温度高于预设温度区间，所述散热模块工作使所述测斜仪温度影响装置降温。主要通过加热模块和散热模块的调节，让传感器内部的温度值保持在参考值的±5℃范围内，低温时加热、高温时风扇散热的方式硬件调节内部温度，使得内部温度相对恒定，从而消除温度影响。

技术领域

本实用新型涉及温度监测技术领域，具体涉及一种测斜仪温度修正装置、测斜仪。

背景技术

传统的对测斜仪的温度补偿修正一般采用在厂内进行高低温试验箱进行，将传感器安装固定在试验箱内部，再通过根据对不同温度下的角度输出进行温度拟合，得到传感器角度输出-温度之间拟合系数，后续应用时利用此系数进行温度影响补偿。传统方法在一定温度范围内可以进行有效的温度影响修正，但由于高低温箱本身温度范围所限，在温差较大的情况下比如超低温难以覆盖。且采用厂内温度修正的方法占用工时工作量较长，存在不足。

测斜仪一般为MEMS结构，受其内部材料结构的影响，其在实际使用时会受到外界温度的影响，即在实际角度不发生变化的情况下，随着外界温度的升高或者降低，其输出值会随温度发生变化。且变化趋势呈离散型，因此在高精度监测场景下，需要进行温度影响的补偿和修正。

常规做法采用软件方式进行修正，即通过高低温试验箱进行取系数，再软件方法进行系数修正。此方法在一定温度范围内能满足补偿要求，但对外界设备、工作量有要求，批量化生产成本较高。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种测斜仪温度影响装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供了一种测斜仪温度影响装置，包括：

处理器；

温度传感器，与所述处理器电性连接，所述温度传感器用于获取所述测斜仪温度影响装置的温度；

加热模块，与所述处理器电性连接，当所述温度传感器监测的温度低于预设温度区间，所述加热模块工作使所述测斜仪温度影响装置升温；

散热模块，与所述处理器电性连接，当所述温度传感器监测的温度高于预设温度区间，所述散热模块工作使所述测斜仪温度影响装置降温。

所述加热模块为加热电阻。

所述散热模块为散热风扇。

本实用新型还包括一种测斜仪,包括以上所述的测斜仪温度修正装置。

还包括：定位单元，与所述处理器电性连接，所述定位单元用于获取所述测斜仪温度影响装置的位置信息。

所述定位单元包括RS485通信模块和GPS定位模组。

还包括：MEMS传感器，所述MEMS传感器与所述处理器电性连接，所述MEMS传感器用于测量角度信息、加速度信息和气体信息。

还包括：储存器，所述储存器与所述处理器电性连接。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种测斜仪温度影响装置，具备以下有益效果：

本实用新型主要基于通过加热模块/散热模块的调节，让传感器内部的温度值保持在参考值的±5℃范围内，低温时加热、高温时风速扇热的方式硬件调节内部温度，使得内部温度相对恒定，从而消除温度影响，通过硬件自动调节温度加热/扇热的方法，使得传感器内部温度保持在所在地理位置年均值±5℃内，从而消除外界环境对内部传感器的影响，本实用新型可简化省去传统在厂内耗时耗设备的补偿方式，进一步提高产品批量的效率和降低成本。

附图说明