[实用新型]一种触点类通联的卡类产品批量测试工装

说明书

本实用新型公开了一种触点类通联的卡类产品批量测试工装，其包括：测试台（1）、按压装置（2）和托盘（3），其中，所述测试台（1）水平放置；所述按压装置（2）固定于所述测试台（1）上；所述托盘（3）放置于所述测试台（1）上，并设置于所述按压装置（2）正下方，所述托盘（3）上分布有凹陷的卡槽，用于放置TF卡或NM卡。本实用新型通过在针板上对应于托盘（3）的每一个卡槽的位置处都分布有顶针，可以一次性测试整个托盘上的存储卡，节省了时间；通过在压板上增加弹簧顶针和导向块，不但能使压块和存储卡在测试完成后更容易分离，也能将偏离卡槽位置的存储卡引导进正确位置，从而避免卡被压坏。

技术领域

本实用新型涉及存储卡测试工装技术领域，尤其涉及一种触点类通联的卡类产品批量测试工装。

背景技术

MicroSD卡是一种极细小的快闪存储器卡，其格式源自SanDisk创造，原本这种记忆卡称为T-Flash，及后改称为Trans Flash;而重新命名为Micro SD的原因是因为被SD协会(SDA)采立。另一些被SDA采立的记忆卡包括Mini SD和SD卡。其主要应用于移动电话，但因它的体积微小和储存容量的不断提高，己经使用于GPS设备、便携式音乐播放器和一些快闪存储器盘中。NM存储卡是华为自创的一种超微型存储卡，与TF卡相比，NM卡的体积减小了45%。它的形状大小和Nano SIM卡完全相同，可以与Nano SIM卡共享卡槽。TF卡和NM卡出厂前需要进行测试读写速度、读写次数等参数，测试时需要将TF卡或NM卡放在工装上进行固定。

传统的TF和NM卡测试工装在使用过程中存在一些弊端，如：

1.传统的TF卡和NM卡测试工装通常是在托盘上来回移动来测试各个TF卡或NM卡质量，测试完成后再换新的托盘，效率较低。

2.由于TF卡和NM卡自重较轻，很容易偏离其卡槽，传统的TF卡和NM卡测试工装在测试过程中很容易将卡压坏。

在申请号为CN201820015886.0的实用新型专利申请文件中提出了一种TF卡测试座，包括基座、设置在基座上的测试线路板、测试探针、TF卡放置槽以及下压机构和设置在TF卡放置槽两侧的TF卡压杆，测试探针连接测试线路板，TF卡放置槽水平设置，测试探针设置在所述TF卡放置槽下方，测试探针的针头伸入TF卡放置槽内；每个TF卡压杆均包括伸入TF卡放置槽内的压紧端和铰接在下压机构上的铰接端，每个TF卡压杆上均开设有从TF卡压杆的中部延伸至压紧端附近的限位长孔，基座上位于TF卡放置槽的两侧均设置有限位轴，两个限位轴一一对应地穿设在两个限位长孔内；基座和下压机构之间设置有竖向限位机构和复位机构。但该测试座主要用于解决现有的TF卡测试座结构复杂，一旦出现部件损坏时，不方便进行更换或者维护的问题，并不能解决TF卡和NM卡自重较轻，很容易偏离其卡槽的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种触点类通联的卡类产品批量测试工装，以解决上述背景技术中提出的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提出一种触点类通联的卡类产品批量测试工装，其包括：测试台、按压装置和托盘，其中，所述测试台水平放置；所述按压装置固定于所述测试台上；所述托盘放置于所述测试台上，并设置于所述按压装置正下方，所述托盘上分布有凹陷的卡槽，用于放置TF卡或NM卡。

更进一步的，所述测试台由底座和针板组成，所述针板设置于所述底座上。

更进一步的，所述针板上对应于托盘每一个卡槽的位置处均分布有顶针。

更进一步的，所述按压装置包括支座、压板安装板、推杆、弹簧、手柄和导杆，其中，所述支座和导杆一端设置于测试台上，所述压板安装板为E型板，所述压板安装板外侧两臂长于中间一臂，所述导杆穿过压板安装板外侧两臂并将其固定，所述导杆中间一臂与推杆垂直连接，所述推杆上半部分镶嵌于弹簧中，所述弹簧上端连接固定在支座上的手柄。

更进一步的，所述按压装置还包括压板，所述压板设置于压板安装板底部。