[实用新型]针卡针径维修辅助工具

说明书

本实用新型提供了一种针卡针径维修辅助工具，属于探针卡维修技术领域。该维修辅助工具包括壳体、底座、探针和毛刷头，底座位于壳体内部，且底座相对壳体能转动，从而改变底座的倾斜度，调节放置在底座上的探针卡角度，避免维修针卡时碰触其它探针；探针通过固定部插入一连接杆中，固定部选用软材料，方便不同型号探针的更换；毛刷头可拆卸安装在连接杆一端，方便更换；该维修辅助工具还设有手肘垫、工具盒和支架，手肘垫用于支撑维修人员肘部，缓解手部疲劳；工具盒方便存放小型工具；支架用于放置连接杆，便于探针和毛刷头的放取。

技术领域

本实用新型属于探针卡维修技术领域，具体涉及一种针卡针径维修辅助工具。

背景技术

半导体产业主要由设计、晶圆制造、封装测试几部分组成。中测(Wafer test)是半导体后道封装测试的第一站，中测的目的是将硅片中不良的芯片挑选出来，所用到的设备有测试机(IC Tester)、探针卡(Probe Card)、探针台(Prober)以及测试机与探针卡之间的接口(Mechanical Interface)；中测的关键点在探针卡和接口这两部分，这也是制约国内中测水平的难点所在。

探针卡探针的使用维护对测试成品率非常重要，做不好会引起接触不良，造成成品率下降，好产品变成不良品，并且，这一错误在后续的工艺中无法复查。

现有技术中，由于无法调节探针卡的角度，维修人员在维修针卡腐蚀针径时，易碰触到旁边探针，操作不方便；另外，无法调节线端接口，从而更换替换探针；且焊接时，由于长时间操作，维修人员手部疲劳，容易产生抖动。

实用新型内容

针对现有技术中存在不足，本实用新型提供了一种针卡针径维修辅助工具，方便调节探针卡的角度及替换探针，同时避免维修人员手部抖动的情况。

本实用新型是通过以下技术手段实现上述技术目的的。

一种针卡针径维修辅助工具，包括壳体、底座、探针和毛刷头；

所述底座位于壳体内部，且底座能相对壳体径向转动；

所述探针通过固定部插入一连接杆中，且探针与外部电源连接；

所述毛刷头可拆卸安装在另一连接杆的一端。

上述技术方案中，所述壳体的高度大于底座的高度，且底座上表面低于壳体上表面，底座底部高于壳体内壁设置的基准线。

进一步地，所述基准线为底座从水平面转到倾斜45°时的线。

进一步地，所述基准线位置处设有限位块。

上述技术方案，还包括设置在壳体上的支撑板，所述支撑板用于放置沿壳体径向抽拉的工具盒。

上述技术方案中，所述壳体上还设有用于放置探针和毛刷头的支架。

上述技术方案，还包括手肘垫。

上述技术方案中，所述壳体和底座的材料采用铁或合金或特氟龙。

上述技术方案中，所述连接杆为棒状或桶状。

上述技术方案中，所述固定部的材料采用泡沫。

本实用新型的有益效果为：

(1)本实用新型中壳体穿过螺栓将底座固定，使用时，通过旋松螺栓，可以改变底座的倾斜度，调节放置在底座上的探针卡角度，避免维修人员在维修针卡时碰触其它探针；

(2)本实用新型探针通过固定部插入连接杆中，固定部选用软材料，方便不同型号探针的更换；毛刷头可拆卸安装在连接杆一端，方便更换；

(3)本实用新型还配套有手肘垫，用于支撑维修人员肘部，缓解长时间维修导致的手部疲劳；