[实用新型]集成电路测试分选上料机构

权利要求书

1.一种集成电路测试分选上料机构，其特征在于，包括转盘及平均分布设置于所述转盘边缘位置的各个料盘，所述转盘一侧设有用于将元件物料通过振动筛分且出料的分料振盘主体，所述分料振盘主体一侧设有用于将所述分料振盘主体的出料推进至所述料盘内的推料组件，所述推料组件包括气缸，及设置于所述气缸一侧的滑轨，所述气缸通过丝杆与推头连接，所述推头通过所述滑轨往复运动，所述分料振盘主体一侧设有用以出料，及便于所述推头将元件物料推出至所述料盘内的出料管带。

2.根据权利要求1所述的集成电路测试分选上料机构，其特征在于，所述分料振盘主体还包括顶部用于进料的入料口，及一侧的用于出料的出料口，所述分料振盘主体底部与弹簧连接。

3.根据权利要求1所述的集成电路测试分选上料机构，其特征在于，所述推料组件还包括设置于所述推头一侧，用于计量推出元件数量的计数装置。

4.根据权利要求1所述的集成电路测试分选上料机构，其特征在于，所述推料组件通过安装座水平焊接于工作台上。

5.根据权利要求1所述的集成电路测试分选上料机构，其特征在于，所述推头行程一侧设有用于复位及制动所述丝杆及所述推头的复位制动装置。

6.根据权利要求5所述的集成电路测试分选上料机构，其特征在于，所述复位制动装置为弹簧及制动片组成的制动结构。

7.根据权利要求1所述的集成电路测试分选上料机构，其特征在于，所述转盘中部位置设有CCD相机，用于检测水平的水平伸缩气缸。

8.根据权利要求1所述的集成电路测试分选上料机构，其特征在于，所述料盘与所述转盘通过可拆卸的插销结构连接。