[实用新型]射频微波芯片模块及系统的自动测量及优化EDA仪器

说明书

一种射频微波芯片模块及系统的自动测量及优化EDA仪器，在摘要附图中，它由平板电脑（U0）、接口1（IF1）、接口2（IF2）、电子控制电路（U1）、水平电机（U2）、垂直电机（U3）、水平开关（U4）、垂直开关（U5）、水平传动装置（G）、丝杠（S）、垂直传动装置（L）、矢量探头装置（P）、传输线（T）、输入连接器（C1）、输出连接器（C2）和电源适配器（U6）组成。本发明提供一种软硬件结合的EDA仪器（EQP），能使设计者在完全真实的操作条件下，在很宽频率范围内自动匹配和测试、验证及优化被测芯片、模块及系统，快速找到被测件所需的最优设计参数，解决了现有射频微波EDA仿真软件误差大的难题，且设计值100%符合实际电路，大大提高了设计效率。

技术领域

本实用新型涉及射频微波芯片、模块及系统EDA（Electronic DesignAutomation——电子设计自动化）领域，尤其是一种可以解决现有射频微波EDA仿真软件误差大的难题、且设计值100%符合实际电路、可大大提高复杂射频微波电路及系统的设计效率的射频微波芯片模块及系统的自动测量及优化EDA仪器。

背景技术

射频微波芯片、模块及系统的设计通常采用EDA仿真软件，常用的射频微波EDA仿真软件有美国的ADS、HFSS、Cadence等。

但是，由于射频微波电路中存在大量的寄生效应、串扰等因素，因而射频微波芯片、模块及系统从上述EDA设计变成实际电路后，存在着各种误差，特别是对于大信号、大功率器件、非线性器件，这个误差往往会比较大，很难设计到最佳值；且频率越高，误差越大，难度越大。

因此，发明一种EDA仪器，在前期仿真设计的基础上，使用它，在很宽频率范围内自动匹配和测试、验证及优化被测芯片、模块及系统，快速找到被测件真正的最优参数，具有重要意义。

发明内容

为了解决现有的射频微波EDA仿真软件误差大、无法100%达到真正的最优值的难题，本实用新型提供一种软硬件结合的射频微波芯片、模块及系统的自动测量及优化EDA仪器，这是一种快速、宽带的自动阻抗控制仪器，能使设计者在完全真实的操作条件下，将很宽频率范围的已知的源阻抗及负载阻抗加到被测器件（DUT）上，从而找出 DUT 参数的各种变化以及最佳值，快速得到所需的最优设计参数。该EDA仪器可覆盖从DC到110GHz、从线性到非线性、从小功率（毫瓦级）到超大功率（数千瓦）、从基波到高次谐波、从脉冲波到连续波、从单个器件到整机等的全方位EDA设计，大大提高了复杂射频微波电路及系统的设计效率且设计值100%符合实际电路，使之成为设计人员高效而有用的工具。