[实用新型]高压集成电路及半导体电路有效

专利信息
申请号: 202122625872.5 申请日: 2021-10-29
公开(公告)号: CN216213453U 公开(公告)日: 2022-04-05
发明(设计)人: 冯宇翔;潘志坚;谢荣才;张土明;左安超 申请(专利权)人: 广东汇芯半导体有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 深圳市辰为知识产权代理事务所(普通合伙) 44719 代理人: 陈建昌
地址: 528000 广东省佛山市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 高压 集成电路 半导体 电路
【权利要求书】:

1.一种高压集成电路,其特征在于,包括:

P型衬底,所述P型衬底上设置有N外延层,所述N外延层包括N型高压区;所述N型高压区内设置有第一N+区;所述P型衬底内设置有第二N+区和P+区,所述第二N+区与所述P+区电性相连,且所述第二N+区用于连接地线;

HVJT终结端,所述HVJT终结端设置在所述N外延层上;

HVNMOS管,所述HVNMOS管包括多晶硅栅、漏区、源区和体区;所述多晶硅栅设置在所述HVJT终结端的外侧,且与所述HVJT终结端电性连接;所述第一N+区形成所述漏区,所述第二N+区形成所述源区,所述P+区形成所述体区。

2.根据权利要求1所述的高压集成电路,其特征在于,所述第一N+区靠近所述HVJT终结端的内侧设置,所述HVJT终结端的内侧与所述HVJT终结端的外侧相对。

3.根据权利要求2所述的高压集成电路,其特征在于,所述N外延层还包括N外延区;所述N外延区上设置有P-top区,所述P-top区上设置有从所述HVJT终结端的内侧至所述HVJT终结端的外侧排列的多个多晶硅场板;

所述多个多晶硅场板、所述P-top区和所述N外延区组成所述HVJT终结端。

4.根据权利要求3所述的高压集成电路,其特征在于,所述多个多晶硅场板的电位从所述HVJT终结端的内侧与所述HVJT终结端的外侧依次降低;所述多晶硅栅与靠近所述HVJT终结端的外侧的多晶硅场板电性连接。

5.一种高压集成电路,其特征在于,包括:

P型衬底,所述P型衬底上设置有N外延层,所述N外延层包括N型高压区;所述N型高压区内设置有N+区和第一P+区,且所述N+区与所述第一P+区电性相连;所述P型衬底内设置有第二P+区和第三P+区,所述第二P+区和所述第三P+区电性相连,且所述第三P+区用于连接地线;

HVJT终结端,所述HVJT终结端设置在所述N外延层上;

HVPMOS管,所述HVPMOS管包括多晶硅栅、漏区、源区和体区;所述多晶硅栅设置在所述HVJT终结端的内侧,且与所述HVJT终结端电性连接;所述第二P+区形成所述漏区,所述第一P+区形成所述源区,所述N+区形成所述体区。

6.根据权利要求5所述的高压集成电路,其特征在于,所述第二P+区靠近所述HVJT终结端的外侧设置,所述HVJT终结端的外侧与所述HVJT终结端的内侧相对。

7.根据权利要求6所述的高压集成电路,其特征在于,所述N外延层还包括N外延区;所述N外延区上设置有P-top区,所述P-top区上设置有从所述HVJT终结端的内侧与所述HVJT终结端的外侧排列的多个多晶硅场板;

所述多个多晶硅场板、所述P-top区和所述N外延区组成所述HVJT终结端。

8.根据权利要求7所述的高压集成电路,其特征在于,所述多个多晶硅场板的电位从所述HVJT终结端的内侧与所述HVJT终结端的外侧依次降低;所述多晶硅栅与靠近所述HVJT终结端的内侧的多晶硅场板电性连接。

9.一种半导体电路,其特征在于,包括:

电路基板,所述电路基板上设有绝缘层;

电路层,所述电路层设置在所述绝缘层上;

多个引脚,多个所述引脚的第一端分别与所述电路层电性连接;

密封本体,所述密封本体包裹所述电路基板、以及连接有各所述引脚的电路层;

其中,各所述引脚的第二端分别从所述密封本体的第一侧面引出;所述电路层包括桥臂模块,以及权利要求1至8任意一项所述的高压集成电路;所述桥臂模块耦合连接所述高压集成电路。

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