[实用新型]一种用于测试治具的翻转垂直下压机构

说明书

本实用新型公开了一种用于测试治具的翻转垂直下压机构，涉及测试治具领域。其包括开设有第一安装孔的底座及设于底座上端的且可相对底座上下移动的浮动组件，底座与浮动组件之间设有第一弹性件，浮动组件的一侧连接有可相对浮动组件翻转的盖板，盖板上设有压合件，盖板与压合件之间设有第二弹性件，第一安装孔内安装有探针固定模组，压合件与所述探针固定模组相对应。该翻转垂直下压机构结构设计合理紧凑，待测产品受力均衡，探针与待测产品精准接触，提高测试效率；通过第一弹性件和第二弹性件，使压合件下压与待测产品之间弹性接触，既可以对待测产品进行有效的压制，又避免压力过大压伤待测产品或探针，适用于不同厚度尺寸的待测产品。

技术领域

本实用新型属于测试治具技术领域，尤其涉及一种用于测试治具的翻转垂直下压机构。

背景技术

在电子设备的制造中，需要使用大量的PCB板，为了保证产品的可靠性，需要对产品的PCB板进行测试；针点测试治具是PCBA测试治具的一个分支，主要测试PAD点(PCB板上一些要焊电子元器件的焊点)，引脚(指用于焊一些带脚的电子元器件，比如电阻，形状常常是孔状)的导通及其他相关功能性测试；测试治具的压板在设计时位置一定要精确，不能让产品在测试时把产品或探针压坏，同时也要保证测试产品与探针精准接触。传统的下压方式导致结构繁琐，成本增加，容易因产品受压力不均匀导致压伤产品。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有的下压机构存在着上述的问题，提供了一种结构设计合理紧凑，压合件下压与待测产品之间弹性接触，使待测产品受力均衡，同时测试产品能够与探针精准接触的用于测试治具的翻转垂直下压机构。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下技术方案：

一种用于测试治具的翻转垂直下压机构，包括开设有第一安装孔的底座及设于底座上端的且可相对底座上下移动的浮动组件，所述底座与浮动组件之间设有第一弹性件，所述浮动组件的一侧连接有可相对浮动组件翻转的盖板，所述盖板上设有压合件，所述盖板与压合件之间设有第二弹性件，所述第一安装孔内安装有探针固定模组，所述压合件与所述探针固定模组相对应；所述盖板可相对浮动组件翻转并与其相贴合，浮动组件可带动盖板和压合件向下移动，压合件可下压待测产品使其与探针固定模组相接触。

优选的，所述盖板上设有第二安装孔，所述第二安装孔的一端固定连接有挡块，所述压合件包括设于第二安装孔的另一端的压块，所述压块的一端限位于第二安装孔内并可位于第二安装孔内直线移动，所述压块的另一端延伸出第二安装孔；所述第二弹性件位于挡块与压块之间。

优选的，所述压块包括位于第二安装孔内的第二限位部及连接于第二限位部一端的下压部；环绕所述第二安装孔远离挡块的一端内壁设有用于抵挡第二限位部的抵挡凸缘，所述第二限位部限位于挡块与抵挡凸缘之间。

优选的，所述探针固定模组包括固定于第一安装孔的一端的下针块及设于第一安装孔的另一端的上针块，所述上针块的一端限位于第一安装孔内，所述上针块的另一端延伸出第一安装孔；所述上针块与下针块之间设有第三弹性件。

优选的，所述上针块包括第一限位部及连接于第一限位部一端的承载部；所述第一限位部限位于第一安装孔内，所述承载部延伸出第一安装孔；所述上针块可沿第一安装孔上下直线移动。

优选的，所述第一弹性件、第二弹性件、第三弹性件均为压缩弹簧。

优选的，所述上针块的上端设有用于放置待测产品的限位槽。

优选的，所述上针块与下针块上均设有相对应的穿插孔，所述穿插孔内适配有探针，所述探针的一端延伸出上针块的一端并位于限位槽内，所述探针的另一端延伸出下针块。

优选的，所述浮动组件包括浮动支架，所述浮动支架与底座之间设有限位轴，所述浮动支架与底座上均设有与限位轴相适配的限位孔，所述浮动支架可沿着限位轴相对底座上下直线移动。