[实用新型]数字集成电路通用测试装置

说明书

本实用新型揭示了一种数字集成电路通用测试装置，所述数字集成电路通用测试装置包括一底板，并且底板设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座，其特征在于：所述底板设有用以与外部测试设备连接的连接接口，并且所述底板在插座侧边设有排针母座，并且所述排针母座的接脚与所述连接接口的接脚一一对应连接，同时所述底板上还设有电源接口与接地接口，并且所数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针，所述线带插针一端与所述的电源接口或接地接口连接，另一端与排针母座与待测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。

【技术领域】

本实用新型属于测试领域，特别是指一种适用于多种不同型号规格数字集成电路的测试装置。

【背景技术】

数字集成电路在进行功能和电性能参数测试时，其硬件连接是通过对其电源引脚加电，地引脚接地，其他数字引脚接不同的数字通道。然后测试软件对不同数字通道根据器件功能加不同的数字信号测试其功能和电性能。不同数字通道信号可通过软件控制可调换顺序，电源和地引脚的硬件连接确定后不可调换。数字集成电路型号多，引脚定义各不相同，并且电源和地的引脚位置不固定，因此每种型号器件都需要专门设计不同测试工装进行连接，夹具设计成本高，测试时需频繁更换测试夹具导致测试效率低。集成电路复杂度的提高，对所需的外部资源包括源表和测试表也越多，部分原有设备的资源无法满足测试需求。

【实用新型内容】

本实用新型的目的在于提供一种数字集成电路通用测试装置，用以实现对多种不同型号数字集成电路功能性能测试工作，具有拓展性，可以满足更多的测试需求，提高测试效率及降低测试装置设计和管理成本。

为实现上述目的，实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置包括一底板，并且底板设有用于与待测集成电路连接并固定待测集成电路的插座，其中所述底板设有用以与外部测试设备连接的连接接口，并且所述底板在插座侧边设有排针母座，并且所述排针母座的接脚与所述连接接口的接脚一一对应连接，同时所述底板上还设有电源接口与接地接口，并且所数字集成电路通用测试装置还包括多个线带插针，所述线带插针一端与所述的电源接口或接地接口连接，另一端与排针母座与待测集成电路电源或接地引脚连接的引脚相连接。

依据上述主要特征，所述连接接口设有二个，分别设于底板两侧。

依据上述主要特征，所述排针母座设有二个，分别设于底板的插座两侧。

依据上述主要特征，所述线带插针一端焊接于所述底板的电源接口或接地接口。

依据上述主要特征，所述底板上的电源接口设有多个。

与现有技术相比较，本实用新型具有以下技术效果：

1、通过电路走线引出排针母座，电源和地的连接通过线带插针连接，可满足不同引脚定义的多种型号数字集成电路测试连接要求；

2、引出的排针母座接口可连接电流电压源、电子负载等外部源表增加原有设备的资源，也可连接数字万用表、示波器的等外部测量表，以扩展设备测试能力；

3、通过排针母座和线带插针的连接方式，设计制造成本低，连接安全可靠，实用性好，通用性好，适用于大部分集成电路器件，具有很高的实用价值。

【附图说明】

图1为实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置的结构示意图。

图2为图1所示的实施本实用新型的数字集成电路通用测试装置的电路走线示意图。

【具体实施方式】