[实用新型]一种半导体刮擦探针结构有效
| 申请号： | 202122369255.3 | 申请日： | 2021-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN216560706U | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 吉小飞 | 申请（专利权）人： | 苏州迪克微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 顾品荧 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 探针 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种半导体刮擦探针结构，其特征在于：包括测试底座(1)，所述测试底座(1)上设有弹性体(2)，所述弹性体(2)上开设有穿孔(3)，所述穿孔(3)上插有探针(4)，所述探针(4)的两端分别位于穿孔(3)两侧，且探针(4)的两端分别向探针(4)两侧弯斜；所述探针(4)包括探针本体、一体成型在探针本体两端的第一端(5)和第二端(6)，所述第一端(5)向探针本体的第一侧弯折，所述第二端(6)向探针本体的另一侧弯曲。
2.根据权利要求1所述的半导体刮擦探针结构，其特征在于：所述穿孔(3)为直孔或斜孔。
3.根据权利要求1所述的半导体刮擦探针结构，其特征在于：所述测试底座底部连接有PCB测试板(9)。
4.根据权利要求2所述的半导体刮擦探针结构，其特征在于：所述第一端(5)形成半导体刮擦测试位(7)。
5.根据权利要求1所述的半导体刮擦探针结构，其特征在于：所述第一端(5)和第二端(6)的端部为弧形。
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