[实用新型]玻璃基板磨削量检测系统

说明书

本申请公开了一种玻璃基板磨削量检测系统，其包括基架、控制器和检测装置；所述基架具有承载面，以承载待测玻璃基板，承载面上对应所述待测玻璃基板的至少一侧边缘设有检测轨道，所述检测轨道上间隔设有若干检测位；所述检测装置活动设置于所述检测轨道，所述检测装置与所述控制器信号连接，以使所述检测装置能够沿所述检测轨道对应待测玻璃基板的至少一侧边缘往复运动；所述待测玻璃基板磨削前，所述检测装置能够于所若干述检测位获取所述待测玻璃基板边缘的第一类位置信息；所述待测玻璃基板磨削后，所述检测装置能够于所述若干检测位获取所述待测玻璃基板被磨削边缘的第二类位置信息。

技术领域

本申请涉及玻璃生产技术领域，尤其涉及一种玻璃基板磨削量检测系统。

背景技术

光电显示玻璃基板研磨工序加工中，为消除切割造成的微小裂纹及掉片，需使用研磨轮进行磨边，研磨轮对玻璃基板的研磨量或磨削量对玻璃基板的品质有着决定性的作用。

目前，生产厂家普遍采用的测量方法是在玻璃基板一边取前后两个参考点进行磨削量的测量；但是，受上游工序切割机、研磨机机械精度的影响，玻璃基板边部呈现为波浪线，传统的两点式测量研磨量的方式无法准确的测量整体研磨量，尤其是对于长度较大的玻璃基板。

实用新型内容

本申请实施例提供一种玻璃基板磨削量检测系统，以解决现有测量方法准确性较低的问题。

为解决上述技术问题，本申请实施例提供如下技术方案：

本申请提供一种玻璃基板磨削量检测系统，其包括：

基架，所述基架具有承载面，以承载待测玻璃基板，所述承载面上对应所述待测玻璃基板的至少一侧边缘设有检测轨道，所述检测轨道上间隔设有若干检测位；

控制器；

检测装置，所述检测装置活动设置于所述检测轨道，所述检测装置与所述控制器信号连接，以使所述检测装置能够沿所述检测轨道对应所述待测玻璃基板的至少一侧边缘往复运动；所述待测玻璃基板磨削前，所述检测装置能够于所述若干检测位获取所述待测玻璃基板边缘的第一类位置信息；所述待测玻璃基板磨削后，所述检测装置能够于所述若干检测位获取所述待测玻璃基板被磨削边缘的第二类位置信息；

其中，所述检测位的数量至少为三个。

在本申请的一些变更实施方式中，前述的玻璃基板磨削量检测系统，其还包括若干光电传感器；

所述若干光电传感器与所述若干检测位一一对应且可拆卸地设置于所述检测轨道，所述若干光电传感器与所述控制器信号连接，所述光电传感器检测所述检测装置运动至所述检测位时，所述控制器控制所述检测装置停驻。

在本申请的一些变更实施方式中，前述的玻璃基板磨削量检测系统，其中所述检测装置包括行走机构和检测器；

所述行走机构与所述控制器信号连接，以使所述行走机构能够于所述检测轨道上沿所述待测玻璃基板的至少一侧边缘运动并对应于所述检测位停驻；

所述检测器设置于所述行走机构，所述检测器与所述控制器信号连接，以使所述检测器能够随所述行走机构运动至所述检测位获取对应于所述检测位的待测玻璃基板的第一类位置信息和第二类位置信息。

在本申请的一些变更实施方式中，前述的玻璃基板磨削量检测系统，其中所述检测器包括接触式数字传感器和驱动部；

所述接触式数字传感器垂直所述行走机构的行走方向连接于所述驱动部的输出端，以能够沿垂直所述行走机构的行走方向由初始位置向所述待测玻璃基板运动并抵触于所述待测玻璃基板或由抵触于所述待测玻璃基板回复至所述初始位置。

在本申请的一些变更实施方式中，前述的玻璃基板磨削量检测系统，其中所述行走机构包括行走架和行走驱动部；