[实用新型]一种省力型芯片检测装置

说明书

本申请涉及一种省力型芯片检测装置，包括安装座以及旋钮，安装座上同轴设有安装槽，还包括：设置在安装槽内侧壁上的限位部，限位部至少设有两个，限位部沿着安装槽的内侧壁均匀分布；以及开设在旋钮外侧壁的滑动槽，滑动槽一一对应限位部设置，限位部分别滑动设置在滑动槽内，滑动槽沿着自身轨迹方向逐渐倾斜设置，且倾斜方向一致；滑动槽的较高端位置设有锁止平面，限位部滑动到锁止平面实现锁定旋钮的位置。本申请将旋钮与安装槽之间的连接方式由原先的螺纹连接，改变成，限位部滑动设置在滑动槽内，从而有效降低旋钮与安装槽之间的摩擦力，在操作时更加省力，并且不会出现被芯片顶起锁死的情况。

技术领域

本申请涉及芯片测试装置的技术领域，尤其是涉及一种省力型芯片检测装置。

背景技术

芯片测试装置是用于检测芯片性能的装置，目前常用的为芯片测试插座，在芯片测试插座里面放入芯片进行检测。

例如授权公告号为CN212781099U的中国实用新型专利公开了一种芯片测试模组。其包括：安装座，用于安装待测芯片；及内载板组件，与安装座装配在一起，内载板组件包括内载板、第一针载板、第二针载板，内载板安装于第一针载板和第二针载板之间，第一针载板设有与待测芯片和内载板电连接的第一导电元件，第二针载板设有与内载板电连接的第二导电元件和通信接口，内载板用于安装测试芯片，测试芯片通过内载板、第一导电元件与待测芯片电连接，用于对待测芯片进行测试，并通过通信接口将测试结果输出。

在上述方案中，通过转动旋钮，能够使得压块压紧待测芯片，进而使得待测芯片与第一导电元件保持稳定良好的电连接，这也是目前通用的旋钮压紧方式。

但是，在实际使用过程中，因为旋钮时螺纹连接在安装座内，该种方式首先在旋转时比较吃力，存在使用不便的问题，再者，当旋转旋钮使得压块向下抵紧待测芯片时，会产生锁死的现象，即再旋松旋钮时由于受到待测芯片向上的反弹力，从而导致旋钮很难被旋松，进一步导致了使用的不便。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本申请提供一种省力型芯片检测装置，其具有旋紧、旋松更加省力，使用更加方便的优点。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案如下：

一种省力型芯片检测装置，包括安装座以及旋钮，所述安装座上同轴设有安装槽，还包括：

设置在安装槽内侧壁上的限位部，所述限位部至少设有两个，所述限位部沿着安装槽的内侧壁均匀分布；

开设在旋钮外侧壁的滑动槽，所述滑动槽一一对应限位部设置，所述限位部分别滑动设置在滑动槽内，所述滑动槽沿着自身轨迹方向逐渐倾斜设置，且倾斜方向一致；

所述滑动槽的最高端位置设有锁止平面，限位部滑动到锁止平面锁定旋钮的位置。

实现上述技术方案，在使用该检测装置时，旋动旋钮，在倾斜设置的滑动槽的限位作用下，旋钮会在旋转的同时朝向竖直方向移动，然后在锁止平面的作用下，完成旋钮的解锁或者锁止功能；本方案中利用滑动槽与限位部的配合，使得旋钮与安装座之间的摩擦力远小于螺纹配合，从而使得旋动旋钮时更加省力，并且，不存在螺纹连接的锁死情况，提高使用的方便性。

作为本申请的其中一个优选方案，所述旋钮的顶面沿自身圆周方向开设有多个螺纹孔，所述旋钮的顶面可拆卸连接有旋转座。

实现上述技术方案，一方面旋转座方便了人工操作旋钮，另一方面，旋转座旋转的初始位置可调节，从而当待测芯片的厚度发生变化时，可改变旋转座的初始位置，在保证与锁止组件配合的同时能够适应不同厚度芯片的检测需求。

作为本申请的其中一个优选方案，所述旋转座上水平设有手把。

实现上述技术方案，更便于旋转旋转座，使用更加省力。