[实用新型]晶振测试装置

说明书

本申请涉及一种晶振测试装置，其包括基板以及设置在基板上的测试槽、有源输出模块、无源起振模块和电源模块；测试槽包括有源测试槽和无源测试槽；有源输出模块连接有源测试槽的输出端子，用于接收有源测试槽内的有源晶振输出的有源测试信号；无源起振模块连接无源测试槽，用于对无源测试槽内的无源晶振进行起振，以输出无源测试槽内的无源晶振输出的无源测试信号；电源模块用于分别为有源测试槽、无源起振模块和有源输出模块供电。本申请具有降低测试多种不同种类的晶振的测试成本的效果。

技术领域

本申请涉及晶振检测领域，尤其是涉及晶振测试装置。

背景技术

晶振是电子电路中最常用的电子元件之一，晶振的种类繁多，例如晶振可以分为有源晶振和无源晶振，不同类型的有源晶振的工作电压不同，无源晶振依据不同的封装形式还分为贴片式无源晶振和插入式无源晶振两种。

目前,常采用晶振测试板来对晶振进行测试，在测试一种类型的晶振时，需要采用与该类型晶振相匹配的晶振测试板来进行测试，而要想测试多种类型的晶振时，就需要多种晶振测试板来进行测试工作，所以测试晶振的种类越多则测试成本将越大。

实用新型内容

为了降低测试多种不同种类的晶振的测试成本，本申请提供一种晶振测试装置。

本申请提供的晶振测试装置，采用如下的技术方案：

一种晶振测试装置，包括基板以及设置在基板上的测试槽、有源输出模块、无源起振模块和电源模块；所述测试槽包括有源测试槽和无源测试槽；所述有源输出模块连接所述有源测试槽的输出端子，用于接收有源测试槽内的有源晶振输出的有源测试信号；所述无源起振模块连接所述无源测试槽，用于对无源测试槽内的无源晶振进行起振，以输出无源测试槽内的无源晶振输出的无源测试信号；所述电源模块用于分别为有源测试槽、无源起振模块和有源输出模块供电。

通过采用上述技术方案，电源模块为有源测试槽、无源起振模块和有源输出模块供电，当有源测试槽接电时，有源测试槽的输出端子输出有源测试信号，有源输出模块接收有源测试信号并输出；无源起振模块接电时，无源起振模块对无源晶振进行起振，无源起振模块接收无源测试槽内的无源晶振输出的无源测试信号并输出，即晶振测试装置能对有源晶振和无源晶振进行测量，无需单独依赖有源测试板对有源晶振进行测试，也无需单独依赖无源测试板对无源晶振进行测试，降低了测试不同种类晶振的测试成本。

可选的，所述基板划分为有源区域和无源区域，所述有源测试槽和有源输出模块均位于有源区域内，所述无源测试槽和无源起振模块均位于无源区域。

通过采用上述技术方案，有源区域和无源区域的划分使得有源测试槽和无源测试槽分开，方便对有源晶振和无源晶振进行测试，避免有源晶振和无源晶振在测试时混乱从而导致测量效率降低。

可选的，所述有源输出模块包括：运算放大器，所述运算放大器的输入端与有源测试槽的输出端子连接，用于处理有源测试信号包含的数据信息并输出；以及有源输出端口，连接运算放大器的输出端，用于接收经过运算放大器处理后的有源测试信号并输出。

运算放大器用于将有源测试信号的数据进行失真和放大，降低有源测试信号的失真度以及放大有源测试信号，提高了有源测试信号包含的测试结果的可靠度。

可选的，所述无源测试槽包括：贴片槽，所述贴片槽内设置有适配于贴片式无源晶振的凹槽封装；以及插入槽，所述插入槽内设置有适配于插入式无源晶振的插槽封装。

通过采用上述技术方案，凹槽封装用于放置贴片式无源晶振，所以贴片槽能测试贴片式无源晶振；插槽封装用于固定插入式无源晶振，所以插入槽能测试插入式无源晶振。采用上述技术手段，贴片槽对应测试贴片式无源晶振、插入槽对应测试插入式无源晶振，降低了测试贴片式无源晶振和插入式无源晶振的测试成本。