[实用新型]一种光模组探针检测装置

说明书

本实用新型公开了一种光模组探针检测装置，属于测试技术技术领域。包括基础平台、电控箱和模组检测装置，模组检测装置包括滑轨组，滑轨组可拆卸设置在基础平台上，滑轨组包括第一滑轨、第二滑轨和第三滑轨，第一滑轨上设有Y电机位移模组，Y电机位移模组上设有载物台，载物台上设有待测模组和模组夹，第二滑轨上设有第一X电机位移模组、第一Z电机位移模组和手动Y向位移台，手动Y向位移台上设有横梁、第一探针、第一夹具和第一摄像头，第三滑轨上设有第二X电机位移模组和第二Z电机位移模组，第二Z电机位移模组上设有第二探针、第二夹具和第二摄像头。通过提供一种光模组探针检测装置，节省了人力，并提高了效率。

技术领域

本实用新型涉及一种光模组探针检测装置，属于测试技术领域。

背景技术

光通信模组组装完成之后，需要对模组内的功能模块化测试，以提前鉴别出不合格的模组，防止对不合格的模组封盖，提高生产效率。

市场上有晶圆自动测试机用于测试晶圆半导体芯片，在测试时将完整的待测晶圆放置到探针台的水平工作面上，探针台事先通过平整度测试，保证工作平面的平整度，同时将测试起始位置坐标对位，然后通过控制探针台X、Y、Z三个方向的晶振运动，让待测试晶圆与固定的探针卡上的探针接触，通过针卡上连接的测试机发出和获取测试信号和数据来进行测试。

晶圆测试机正常工作的前提是，晶圆属于半导体制造，位于晶圆上不同芯片的尺寸和位置精度极高，因此可以控制电机按照固定的行程，依次使探针来测每个样品。而模组的装配精度依赖于机械装配，不同样品中包含的元器件装配位置和高度精度较差，因此不能依靠电机固定行程来做自动化测试。另一方面，模组的手工测试台效率低，人工成本高，无法满足光通信模组的大批量制造。因此，需要提供一种用于模组测试的自动化探针台，降低模组测试的成本，并提高测试效率。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于：提供一种光模组探针检测装置，它解决了现有技术中装配精度较差、模组的手工测试台效率低、人工成本高，无法满足光通信模组的大批量制造的问题。

本实用新型所要解决的技术问题采取以下技术方案来实现：

一种光模组探针检测装置，包括基础平台、电控箱和模组检测装置；

所述模组检测装置包括滑轨组，滑轨组可拆卸设置在基础平台上；

所述滑轨组包括第一滑轨、第二滑轨和第三滑轨，第一滑轨上设有Y电机位移模组，Y电机位移模组上设有载物台，载物台上设有待测模组和模组夹；

所述第二滑轨上设有第一X电机位移模组、第一Z电机位移模组和手动Y向位移台，手动Y向位移台上设有横梁、第一探针、第一夹具和第一摄像头；

所述第三滑轨上设有第二X电机位移模组和第二Z电机位移模组，第二Z电机位移模组上设有第二探针、第二夹具和第二摄像头；

所述基础平台上设置有急停按钮、盖板、侧板和底板。

作为优选实例，所述底板的底部设置有脚垫。

本实用新型的有益效果是：

1、本实用新型中的探针检测装置通过机器视觉识别探针、器件的几何参数，计算出探针与器件的位置关系，然后根据计算值控制电机使探针和器件的目标位置对准，节省了人力，并提高了效率。

2、底板的底部设置脚垫，可以增大设备的摩擦力和缓冲性。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为基础平台的结构示意图；

图3为滑轨组的结构示意图；

图4为Y电机位移模组的结构示意图；

图5为手动Y向位移台的结构示意图；