[实用新型]一种电子产品测试用按键寿命试验装置有效
| 申请号: | 202122091657.1 | 申请日: | 2021-09-01 |
| 公开(公告)号: | CN216160140U | 公开(公告)日: | 2022-04-01 |
| 发明(设计)人: | 王强 | 申请(专利权)人: | 深圳市柯比迪科技有限公司 |
| 主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00 |
| 代理公司: | 北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙) 11947 | 代理人: | 孙瑞峰 |
| 地址: | 518051 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 电子产品 测试 按键 寿命 试验装置 | ||
本实用新型公开了一种电子产品测试用按键寿命试验装置,涉及按键寿命试验装置技术领域,该电子产品测试用按键寿命试验装置,包括底座,所述底座顶端焊接有顶架,所述顶架内部通过螺栓安装有电动伸缩架。本实用新型通过顶架内部通过螺栓安装的电动伸缩架,方便推动驱动盒下压,从而调节延伸杆位置,满足延伸杆按压电子产品按键进行测试的高度需求,同时也满足了按键寿命试验装置的按压深度调节需求,同时通过机盒内部通过螺栓安装的电动伸缩器,方便电动延伸杆进行伸缩运动,从而对电子产品进行按键寿命试验,通过驱动盒底端开设有滑槽,方便根据需求,滑动限位滑块,调节机盒位置,满足不同电子产品按键测试的位置调节需求。
技术领域
本实用新型涉及按键寿命试验装置技术领域,具体为一种电子产品测试用按键寿命试验装置。
背景技术
按键寿命试验机可对手机、MP3、电脑、电子词典按键、摇控器按键、硅橡胶按键、硅胶制品等做寿命测试,适用于检测按键开关、轻触开关、薄膜开关等各类按键进行寿命试验。
然而现有的电子产品测试用按键寿命试验装置在对电子产品进行按键寿命试验时,无法根据电子产品的按键位置,来调节试验装置的按压结构位置,从而无法满足对不同电子产品进行按键寿命试验需求,同时,无法调节按压深度。
实用新型内容
本实用新型提供了一种电子产品测试用按键寿命试验装置,具备可根据电子产品按键位置进行按压结构位置的调节,同时可调节按压深度的优点,以解决现有的电子产品测试用按键寿命试验装置在对电子产品进行按键寿命试验时,无法根据电子产品的按键位置,来调节试验装置的按压结构位置,从而无法满足对不同电子产品进行按键寿命试验需求,同时,无法调节按压深度的问题。
为实现可根据电子产品按键位置进行按压结构位置的目的,本实用新型提供如下技术方案:一种电子产品测试用按键寿命试验装置,包括底座,所述底座顶端焊接有顶架,所述顶架内部通过螺栓安装有电动伸缩架,所述电动伸缩架底端通过螺栓安装有驱动盒,所述驱动盒底端开设有滑槽,所述滑槽内部滑动安装有限位滑块,所述限位滑块底端通过螺栓安装有机盒,所述机盒内部通过螺栓安装有电动伸缩器,所述电动伸缩器伸缩杆底端旋转安装有延伸杆,所述延伸杆底端旋转安装有硅胶帽。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述驱动盒内部镶嵌有导轨式接电板,所述驱动盒顶端镶嵌有杆式接电座,所述杆式接电座顶端滑扣于导轨式接电板导电轨槽内,所述杆式接电座底端与电动伸缩器之间电性连接。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述驱动盒顶端表面开设有线束槽所述底座内部镶嵌有蓄电池。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述底座顶端表面粘合有防滑胶板,所述底座顶端两侧均焊接有定位架,所述定位架内壁开设有滑动槽,所述滑动槽内部滑动安装有夹持板,所述夹持板位于防滑胶板正上方。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述底座表面镶嵌有控制开关和显示面板,所述显示面板数据输入端与电动伸缩器相连。
作为本实用新型的一种优选技术方案,所述延伸杆底端开设有螺栓衔接槽。
与现有技术相比,本实用新型提供了一种电子产品测试用按键寿命试验装置,具备以下有益效果:
1、该电子产品测试用按键寿命试验装置,通过顶架内部通过螺栓安装的电动伸缩架,方便推动驱动盒下压,从而调节延伸杆位置,满足延伸杆按压电子产品按键进行测试的高度需求,同时也满足了按键寿命试验装置的按压深度调节需求,同时通过机盒内部通过螺栓安装的电动伸缩器,方便电动延伸杆进行伸缩运动,从而对电子产品进行按键寿命试验,通过驱动盒底端开设有滑槽,方便根据需求,滑动限位滑块,调节机盒位置,满足不同电子产品按键测试的位置调节需求。
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