[实用新型]一种纳米晶检测设备有效
申请号: | 202121974997.2 | 申请日: | 2021-08-20 |
公开(公告)号: | CN216847522U | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 陆宣凯;王建中;徐毅;裴杰;李少波 | 申请(专利权)人: | 信维通信(江苏)有限公司 |
主分类号: | G01N21/892 | 分类号: | G01N21/892;G01N21/01;B65G15/58 |
代理公司: | 深圳市博锐专利事务所 44275 | 代理人: | 欧阳燕明 |
地址: | 213000 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 检测 设备 | ||
本实用新型公开了一种纳米晶检测设备,包括相机、载台、导轮及气管;相机与所述载台的一面相对设置;导轮设置在所述一面的两侧;载台内有空腔,所述气管的一端连通所述空腔,另一端用于连接抽气机;载台的所述一面上设置有通孔;本实用新型纳米晶带材通过导轮的旋转能够在载台上实现自动移动,且通过抽气机抽出空腔内的空气,能够制造出空腔内与空腔外之间的气压差,实现将带材吸附在设置有通孔的一面上并通过相机获取纳米晶带材的图像,后续再根据获取的图像判断是否存在缺陷,替代了人工检测,全程自动且检测速度快,实现对纳米晶的快速检测。
技术领域
本实用新型涉及质量检测领域,尤其涉及一种纳米晶检测设备。
背景技术
在无线充电技术领域,通常采用纳米晶作为导磁和电磁屏蔽材料。纳米晶的磁导率和饱和磁感应强度都较高,但电阻率小且损耗高,在充电过程中会降低材料的充电效率,因此需要引入碎磁工艺将纳米晶分割成小的单元以减少充电过程中的损耗进而实现效率的提高。
在碎磁工艺中通常使用碎磁辊碾压纳米晶带材,此时会有少量碎屑颗粒产生,且纳米晶带材表面也会有碎裂裂纹,而纳米晶成品需要由多层纳米晶带材复合而成,若其中有纳米晶带材夹杂异物颗粒,复合后会形成表面鼓包,表面鼓包可能刺破接收端线圈的绝缘层,导致充电效率降低;纳米晶成品厚度超标,在充电过程中造成电池爆炸;且会导致纳米晶的屏蔽性能减弱,散热效率降低。而现有需要人工核查纳米晶带材是否出现缺陷,对检测人员的培训要求较高,并且新人培训较难,且人工检测过程中容易出现误测、漏测的情况,使得有缺陷的不良物料流失到下个工站导致物料浪费,当物料表面有小的鼓包凸起或凹点,人眼很难准确快速判断。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是:提供一种纳米晶检测设备,实现对纳米晶带材的快速检测。
为了解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案为:
纳米晶检测设备,包括相机、载台、导轮及气管;
所述相机与所述载台的一面相对设置;
所述导轮设置在所述一面的两侧;
所述载台内有空腔,所述气管的一端连通所述空腔,另一端用于连接抽气机;
所述载台的所述一面上设置有通孔。
进一步地,所述载台包括载板、上透明玻璃板及下透明玻璃板;
所述载板上设置有安装孔,所述上透明玻璃板及所述下透明玻璃板分别设置在所述安装孔内的两侧;
所述上透明玻璃板上设置有所述通孔。
进一步地,所述相机包括两个;
两个所述相机分别与所述上透明玻璃板及所述下透明玻璃板相对设置;
且所述通孔设置在所述上透明玻璃板中心的预设范围外。
进一步地,所述上透明玻璃板靠近所述导轮的两侧分别设置有所述通孔。
进一步地,所述通孔为圆形通孔,且所述通孔在所述上透明玻璃板的靠近所述导轮的两侧上分别呈一列设置。
进一步地,所述载台不与所述导轮相对的两侧具有凸起部,所述凸起部的高度为预设高度。
进一步地,还包括同轴光源和镜头;
所述镜头设置在所述相机靠近所述载台的一侧,所述同轴光源设置在所述镜头靠近所述载台的一侧。
进一步地,还包括置料轴;
所述置料轴设置在所述导轮远离所述载台的一侧。
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