[实用新型]定位测试治具

权利要求书

1.一种定位测试治具，其特征在于，包括治具本体(1)、调节模组(2)、驱动件(3)、限位块(5)以及辅助调节组件(6)；

所述调节模组(2)及所述限位块(5)均设于所述治具本体(1)上，所述治具本体(1)上形成有用于放置测试元件(4)的承载面；

所述限位块(5)设于所述驱动件(3)的一端用于抵顶在所述测试元件(4)上，所述调节模组(2)设于所述驱动件(3)的另一端且与所述驱动件(3)传动连接，以使得所述调节模组(2)在所述驱动件(3)的驱动下朝向靠近所述测试元件(4)的方向移动，以使得所述调节模组(2)与所述测试元件(4)插接配合；

所述辅助调节组件(6)设于所述治具本体(1)上且位于所述调节模组(2)的一侧，所述辅助调节组件(6)用于与所述调节模组(2)可分离式连接，以使得所述测试元件(4)与所述调节模组(2)脱离插接时限制所述调节模组(2)朝向靠近所述测试元件(4)的方向移动。

2.根据权利要求1所述的定位测试治具，其特征在于，所述辅助调节组件(6)包括固定于所述治具本体(1)上的连接座(61)以及与所述连接座(61)可转动连接的卡接件(62)，所述调节模组(2)上形成有用于与所述卡接件(62)配合的卡槽(21)，以使得所述测试元件(4)与所述调节模组(2)脱离插接时，所述卡接件(62)卡接至所述卡槽(21)内以限制所述调节模组(2)朝向靠近所述测试元件(4)的方向移动。

3.根据权利要求2所述的定位测试治具，其特征在于，所述卡接件(62)上形成有滑槽(621)，所述连接座(61)上与所述滑槽(621)对应的位置形成有定位孔，限位件(63)依次贯穿所述滑槽(621)与所述定位孔，以使所述连接座(61)与所述卡接件(62)可转动连接。

4.根据权利要求1所述的定位测试治具，其特征在于，所述治具本体(1)上设置有治具平台(13)，所述治具平台(13)上形成所述承载面，所述测试元件(4)设于所述治具平台(13)上用于与所述调节模组(2)匹配。

5.根据权利要求4所述的定位测试治具，其特征在于，所述调节模组(2)包括测试接头(22)以及调节模块(23)，所述测试接头(22)设于所述调节模块(23)上，所述调节模块(23)设于所述治具本体(1)上，所述调节模块(23)用于调节所述测试接头(22)的位置以与所述测试元件(4)匹配。

6.根据权利要求5所述的定位测试治具，其特征在于，所述调节模块(23)包括第一滑块(231)以及第二滑块(232)，所述第一滑块(231)设于所述治具本体(1)上且可沿所述治具本体(1)的长度方向移动以使得所述测试接头(22)靠近或远离所述测试元件(4)；

所述第二滑块(232)设于所述第一滑块(231)上且与所述第一滑块(231)可滑动连接，所述测试接头(22)设于所述第二滑块(232)上，以使得所述第二滑块(232)相对于所述第一滑块(231)沿所述治具本体(1)的宽度方向移动以改变所述测试接头(22)沿所述治具本体(1)的宽度方向的位置。

7.根据权利要求6所述的定位测试治具，其特征在于，所述第二滑块(232)包括第一子滑块(2321)以及第二子滑块(2322)，所述第一子滑块(2321)与所述第一滑块(231)可滑动连接，所述第二子滑块(2322)与所述第一子滑块(2321)可滑动连接，所述测试接头(22)设于所述第二子滑块(2322)上，以使得所述第二子滑块(2322)相对于所述第一子滑块(2321)沿所述治具本体(1)的高度方向移动以改变所述测试接头(22)沿所述治具本体(1)的高度方向的位置。

8.根据权利要求7所述的定位测试治具，其特征在于，所述调节模组(2)还包括测试连接块(24)，所述测试连接块(24)设于所述第二子滑块(2322)的一侧，所述测试接头(22)设于所述测试连接块(24)上；且所述测试连接块(24)与所述第二子滑块(2322)之间设置有弹性件(25)。