[实用新型]光学表盘检测装置有效

专利信息
申请号: 202121925901.3 申请日: 2021-08-17
公开(公告)号: CN215932377U 公开(公告)日: 2022-03-01
发明(设计)人: 张东晓 申请(专利权)人: 深圳市晨晟光学仪器有限公司
主分类号: G04D7/00 分类号: G04D7/00
代理公司: 北京壹川鸣知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11765 代理人: 陈春风
地址: 518000 广东省深圳市龙*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光学 表盘 检测 装置
【权利要求书】:

1.光学表盘检测装置,包括流水线(1)、时针纠偏工位(6)、分针纠偏工位(8)、时针检测工位(7)、分针检测工位(9)以及表盘本体(10),其特征在于,所述时针纠偏工位(6)、分针纠偏工位(8)、时针检测工位(7)、分针检测工位(9)依次设置在流水线(1)水平端,且所述时针纠偏工位(6)、分针纠偏工位(8)设置在流水线(1)前端面,所述时针纠偏工位(6)与分针纠偏工位(8)上方设置有移动指针的机械手(4),所述流水线(1)正上方设有承托表盘本体(10)的承托架(5)。

2.根据权利要求1所述的光学表盘检测装置,其特征在于,所述表盘本体(10)卡接在承托架(5)内侧,所述承托架(5)滑动连接在流水线(1)顶部。

3.根据权利要求1所述的光学表盘检测装置,其特征在于,所述流水线(1)两端的顶部均开设有滑道(11),两组所述滑道(11)顶部分别通过两组弹簧(13)与承托架(5)两端弹性连接。

4.根据权利要求3所述的光学表盘检测装置,其特征在于,所述滑道(11)截面成凸字形结构,且所述滑道(11)凸字底部的结构内滑动连接有滑块(12)。

5.根据权利要求1所述的光学表盘检测装置,其特征在于,所述时针纠偏工位(6)、分针纠偏工位(8)、时针检测工位(7)、分针检测工位(9)内均设置有光源(2)与CCD镜头(3)。

6.根据权利要求1所述的光学表盘检测装置,其特征在于,所述承托架(5)底部设有粗糙纹路。

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