[实用新型]一种单片机芯片的功能检测电路

说明书

一种单片机芯片的功能检测电路，电路包括分压电位器模块、LED指示灯模块和被测单片机芯片，分压电位器模块的输入端电连接采样信号，输出端电连接到被测单片机芯片的AD采样端口；LED指示灯模块与被测单片机芯片的IO端口电连接；其中，分压电位器模块中包括多个分压电位器，多个分压电位器的输入端分别连接多路采样信号，输出端分别与被测单片机芯片的多个AD采样端口电连接，LED指示灯模块中包括多个LED指示灯，多个LED指示灯分别与被测单片机芯片的多个IO端口电连接。本实用新型通过分压电位器模块调节采样信号的大小，并通过观察述LED指示灯模块中灯亮度数量反映各路AD采样功能，实现对PIC18F6680芯片的功能检测，整个电路结构简单，维护成本低，且测试效率高。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体涉及一种单片机芯片的功能检测电路。

背景技术

采购回单片机芯片都要进行性能检测，符合规格要求的芯片才可以进行入库，目前采购回的单片机只做外观检查，未做功能检测，未对产品的重要功能特性进行有效监视和控制

现有技术的芯片测试机，一般功能较为齐全，可以测试不同类型的芯片以及芯片的多种性能，由于其兼容性比较强，所以其成本也高，设备较为复杂，但是对于生产量较多甚至在某个时间段只生产某种类型的芯片来说，使用该种芯片测试机就显得结构较为复杂，维护成本高，大物小用，浪费资源，测试效率也较低。

实用新型内容

鉴于现有技术中存在的技术缺陷和技术弊端，本实用新型实施例提供克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种单片机芯片的功能检测电路，具体方案如下：

一种单片机芯片的功能检测电路，所述电路包括分压电位器模块、LED指示灯模块和被测单片机芯片，所述分压电位器模块的输入端电连接采样信号，输出端电连接到被测单片机芯片的AD采样端口；所述LED指示灯模块与被测单片机芯片的IO端口电连接；

其中，所述分压电位器模块中包括多个分压电位器，多个分压电位器的输入端分别连接多路采样信号，输出端分别与被测单片机芯片的多个AD采样端口电连接，所述LED指示灯模块中包括多个LED指示灯，多个LED指示灯分别与被测单片机芯片的多个IO端口电连接。

进一步地，单片机芯片为PIC18F6680芯片。

进一步地，所述分压电位器模块包括五个分压电位器，分别为RP1、RP2、RP3、RP4和RP5，RP1、RP2、RP3、RP4和RP5分别与PIC18F6680芯片的RF1/AN6、RF0/AN5、RA3/AN3、RA2/AN2和RA5/AN4管脚电连接，五个分压电位器的输入端分别接入五路采样信号，用以实现五路AD采样功能。

进一步地，所述LED指示灯模块包括二十个用于检测相应IO接口逻辑电平输出的LED指示灯，二十个用于检测相应IO接口逻辑电平输出的LED指示灯每四个为一组，共五组，通过每组LED指示灯的亮度数量对应路AD采样功能进行检测；

其中，二十个用于检测相应IO接口逻辑电平输出的LED指示灯分别为D01，D02，…，D20，D01，D02，…，D20分别与PIC18F6680芯片的RD0、RD1、RD2、RD3、RD4、RD5、RD6，RB0、RB1、RB2、RB3、RB4、RF2、RF3、RF4、RF6、RG3、RG2、RG1和RG0管脚电连接。

进一步地，所述PIC18F6680芯片还分别通过RA1/AN1和RA0/AN0管脚电连接两路PWM采样信号，所述LED指示灯模块还包括八个用于检测PWM输出电压的LED指示灯，八个用于检测PWM输出电压的LED指示灯每四个为一组，共两组；

其中，八个用于检测PWM输出电压的LED指示灯分别为D21，D22，…，D28，D21，D22，…，D28分别与PIC18F6680芯片的RE0、RE1、RE2、RE3、RE4、RE5、RE6和RE7管脚电连接。