[实用新型]一种硬掩模有效
申请号: | 202121775311.7 | 申请日: | 2021-07-30 |
公开(公告)号: | CN215416266U | 公开(公告)日: | 2022-01-04 |
发明(设计)人: | 杨晖;周凯;马亮亮;尤兵;陆瑞;王念慈 | 申请(专利权)人: | 合肥本源量子计算科技有限责任公司 |
主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38 |
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地址: | 230088 安徽省合肥市合肥市高*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硬掩模 | ||
1.一种硬掩模,其特征在于,包括:
衬底(10),所述衬底(10)的表面形成有第一绝缘层(11),所述衬底(10)和所述第一绝缘层(11)上形成有贯穿所述衬底(10)和所述第一绝缘层(11)的第一图形线孔(12);
图形设置层(20),形成于所述第一绝缘层(11)的远离所述衬底(10)的表面上,且所述图形设置层(20)上形成有贯穿所述图形设置层(20)的第二图形线孔(21);
所述第二图形线孔(21)与所述第一图形线孔(12)连通,所述第二图形线孔(21)的侧壁上形成有线宽限制层(30),所述第二图形线孔(21)内的所述线宽限制层(30)限定目标图形的线宽。
2.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述第一图形线孔(12)的侧壁上形成有参数控制层(40)。
3.根据权利要求2所述的硬掩模,其特征在于,所述图形设置层(20)为硅层,所述线宽限制层(30)为二氧化硅层。
4.根据权利要求3所述的硬掩模,其特征在于,所述衬底(10)为硅衬底,所述参数控制层(40)为二氧化硅层。
5.根据权利要求4所述的硬掩模,其特征在于,所述线宽限制层(30)和所述参数控制层(40)同时生成。
6.根据权利要求2所述的硬掩模,其特征在于,所述第二图形线孔(21)的线宽小于或等于所述第一图形线孔(12)的线宽。
7.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述图形设置层(20)远离所述第一绝缘层(11)的表面形成有非金属凸点(22)。
8.根据权利要求7所述的硬掩模,其特征在于,所述非金属凸点(22)为氮化硅或者二氧化硅中的任意一种。
9.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述第一绝缘层(11)、所述图形设置层(20)和所述衬底(10)三者的厚度依次增大。
10.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述第一绝缘层(11)的厚度的100nm~1000nm;所述图形设置层(20)的厚度为3um~10um;所述衬底(10)的厚度为100um~700um。
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G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备