[实用新型]一种硬掩模有效

专利信息
申请号: 202121775311.7 申请日: 2021-07-30
公开(公告)号: CN215416266U 公开(公告)日: 2022-01-04
发明(设计)人: 杨晖;周凯;马亮亮;尤兵;陆瑞;王念慈 申请(专利权)人: 合肥本源量子计算科技有限责任公司
主分类号: G03F1/38 分类号: G03F1/38
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 230088 安徽省合肥市合肥市高*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 硬掩模
【权利要求书】:

1.一种硬掩模,其特征在于,包括:

衬底(10),所述衬底(10)的表面形成有第一绝缘层(11),所述衬底(10)和所述第一绝缘层(11)上形成有贯穿所述衬底(10)和所述第一绝缘层(11)的第一图形线孔(12);

图形设置层(20),形成于所述第一绝缘层(11)的远离所述衬底(10)的表面上,且所述图形设置层(20)上形成有贯穿所述图形设置层(20)的第二图形线孔(21);

所述第二图形线孔(21)与所述第一图形线孔(12)连通,所述第二图形线孔(21)的侧壁上形成有线宽限制层(30),所述第二图形线孔(21)内的所述线宽限制层(30)限定目标图形的线宽。

2.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述第一图形线孔(12)的侧壁上形成有参数控制层(40)。

3.根据权利要求2所述的硬掩模,其特征在于,所述图形设置层(20)为硅层,所述线宽限制层(30)为二氧化硅层。

4.根据权利要求3所述的硬掩模,其特征在于,所述衬底(10)为硅衬底,所述参数控制层(40)为二氧化硅层。

5.根据权利要求4所述的硬掩模,其特征在于,所述线宽限制层(30)和所述参数控制层(40)同时生成。

6.根据权利要求2所述的硬掩模,其特征在于,所述第二图形线孔(21)的线宽小于或等于所述第一图形线孔(12)的线宽。

7.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述图形设置层(20)远离所述第一绝缘层(11)的表面形成有非金属凸点(22)。

8.根据权利要求7所述的硬掩模,其特征在于,所述非金属凸点(22)为氮化硅或者二氧化硅中的任意一种。

9.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述第一绝缘层(11)、所述图形设置层(20)和所述衬底(10)三者的厚度依次增大。

10.根据权利要求1所述的硬掩模,其特征在于,所述第一绝缘层(11)的厚度的100nm~1000nm;所述图形设置层(20)的厚度为3um~10um;所述衬底(10)的厚度为100um~700um。

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