[实用新型]一种折弯过程监控机构有效
| 申请号： | 202121760096.3 | 申请日： | 2021-07-30 |
| 公开（公告）号： | CN215342531U | 公开（公告）日： | 2021-12-28 |
| 发明（设计）人： | 罗东;郑明;吴嘉睿 | 申请（专利权）人： | 武汉市鑫三力自动化设备有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/67 | 分类号： | H01L21/67 |
| 代理公司： | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 | 代理人： | 陈德文 |
| 地址： | 430223 湖北省武汉市东湖新技术开发区*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 折弯 过程 监控 机构 | ||
1.一种折弯过程监控机构，其特征在于，包括：
型支架；
座设于所述型支架顶板(11)上、用于调节Y轴方向位置的Y轴滑台(10)；
第一连接块(9)，平装于所述Y轴滑台(10)的上板面；
第二连接块(8)，垂直的装于所述第一连接块(9)的上板面一侧边缘；
侧装于所述第二连接块(8)、用于调节Z轴方向高度的Z轴微调部(13)；
侧装于所述Z轴微调部(13)、用于调节X轴方向位置的X轴微调部(7)；
侧装于所述X轴微调部(7)的第三连接块(6)；
监控相机组件，悬空式连接于所述第三连接块(6)的顶端且其能够在所述第三连接块(6)上转动。
2.根据权利要求1所述的一种折弯过程监控机构，其特征在于，所述Y轴滑台(10)包括固定部和滑动部，固定部固定于所述型支架顶板(11)上，滑动部可在所述固定部上滑动，所述滑动部设有侧孔以供一第一螺钉穿入，通过松紧第一螺钉来调节所述滑动部在所述固定部上的Y轴方向位置。
3.根据权利要求1所述的一种折弯过程监控机构，其特征在于，所述Z轴微调部(13)包括滑接在一起的Z轴方向固定板和Z轴方向活动板，所述Z轴方向固定板固接于所述第二连接块(8)，所述Z轴方向活动板和所述Z轴方向固定板的侧部设置有Z轴向千分尺调节结构。
4.根据权利要求3所述的一种折弯过程监控机构，其特征在于，所述Z轴向千分尺调节结构包括：
固定于所述Z轴方向固定板侧部的Z轴支架(131)，所述Z轴支架(131)具有第一调节孔(135)；
Z轴T型块(133)，装于所述Z轴方向活动板侧部且指向所述第一调节孔，
第二螺钉(132)，螺杆部穿过所述第一调节孔并旋进所述Z轴T型块(133)；
千分尺(134)，固定于所述Z轴支架(131)下端，其调节杆和所述Z轴T型块(133)下侧连接。
5.根据权利要求1所述的一种折弯过程监控机构，其特征在于，所述X轴微调部(7)是由所述Z轴微调部(13)向上旋转90度所形成的结构。
6.根据权利要求1所述的一种折弯过程监控机构，其特征在于，所述监控相机组件包括：
第三连接块(6)，顶端中部具有第一半球形结构槽；
球头座(5)，盖接于所述半球形结构槽且其盖面具有能够和所述半球形结构槽组合形成球形腔的第二半球形结构槽；
球头柱(4)，一端为球体，该球体过盈的置于所述球形腔内；
相机座(3)，固接于所述球头柱(4)的另一端；
相机(2)，安装于所述相机座(3)上，所述相机(2)设有可调节的镜筒(1)。
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H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
