[实用新型]一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具

说明书

本实用新型涉及PCB板那技术领域，具体为一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，包括底板和底板上方的顶板，底板顶面可移动的设置有下治具，下治具上放置有待检测PCB板，顶板下方设有上治具，上治具底面设有金属探针，下治具上设有与探针配合使用的金属靶标，探针底部设有可滚动的金属滚珠，探针通过金属滚珠与靶标接触。本实用新型通过在探针底部设置可滚动的金属滚珠，探针通过金属滚珠与靶标接触，使得探针在移动过程中不会对靶标造成损坏，从而提高保证靶标的完整，进而提高对位的精确度。

技术领域

本实用新型涉及PCB板技术领域，具体为一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具。

背景技术

科学日新月异，电子产品关键部件PCB板由早期单面板，双面板，多层板，进步到今日高密度的软板和软硬结合板。由于工艺越来越复杂，质量要求越来越严格。为了提高生产良率，需要对其进行测试，由于产品铜泊非常细密，测试治具扎针对位是否准确会影响产品的测试，从而影响产品的质量。

现有公开号为CN205720557U的专利公开一种基于PCB/FPCB板测试对位的治具，PCB/FPCB板测试对位时，由于下治具有XY平台装置，待测PCB/FPCB放置下治具待测区，待测PCB/FPCB边沿 的非使用区域设定可以与探针形成通路的靶标，即靶标，上治具使用对应探针，以探针读取通路杷标，修正偏移方向及角度，达到上下治具与待测产品位置正确的目的。然而，该对位治具的探针与靶标（铜箔）直接接触，探针在水平方向不可移动，而PCB板上的靶标会在XY平台驱动下产生水平位移，使得探针与靶标之间形成相对运动，在摩擦力的作用下，探针很容易将靶标划损，从而造成治具定位失误的现象。

实用新型内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，能够将探针与靶标之间的滑动摩擦转化为滚动摩擦，解决了现有的探针与靶标接触时，靶标容易被划损的问题。

（二）技术方案

为实现上述能够将探针与靶标之间滑动摩擦转化为滚动摩擦的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，包括底板和所述底板上方的顶板，所述底板顶面可移动的设置有下治具，所述下治具上放置有待检测PCB板，所述顶板下方设有上治具，所述上治具底面设有金属探针，所述下治具上设有与所述探针配合使用的金属靶标，所述探针底部设有可滚动的金属滚珠，所述探针通过所述金属滚珠与所述靶标接触。

可选的，所述探针包括针杆和所述针杆底部螺纹连接的端盖，所述探针底端设有与所述端盖螺纹配合的金属材质的螺纹柱，所述端盖内部为设有一通孔，所述滚珠位于所述通孔内，所述通孔远离所述螺纹柱的一端直径小于所述滚珠的直径，所述滚珠突出于所述端盖外部。

可选的，所述端盖内部设有弹簧，所述弹簧两端分别与所述滚珠和螺纹柱相抵接，且弹簧为不锈钢材质。

可选的，所述底板顶部安装有XY平台，所述XY平台顶部设有旋转电机，所述旋转电机输出端与所述底板底部固接。

可选的，所述金属探针为两组，每组所述金属探针为四个，每组中的四根所述金属探针呈矩形阵列分布，所述靶标为两个，两个所述靶标分别与两组所述金属探针相对应，所述靶标为粘接在所述待检测PCB板上的呈十字结构的铜箔。

（三）有益效果

与现有技术相比，本实用新型提供了一种基于PCB或FPCB板测试对位的治具，具备以下有益效果：

1.本实用新型探针，通过在探针底部设置可滚动的金属滚珠，探针通过金属滚珠与靶标接触，使得探针在移动过程中不会对靶标造成损坏，从而提高保证靶标的完整，进而提高对位的精确度；

2.本实用新型中探针包括针杆和端盖，且滚珠设于端盖内，当滚珠损坏时，可将端盖拧下，并将其内部损坏的滚珠取出并更换，再将端盖拧上即可，可方便滚珠的更换；