[实用新型]一种图形成像比对装置有效

专利信息
申请号: 202121697842.9 申请日: 2021-07-26
公开(公告)号: CN215894408U 公开(公告)日: 2022-02-22
发明(设计)人: 齐雨婷;刘静超;许林;刘宁洁;李亚男;闻丽芬 申请(专利权)人: 西京学院
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01N21/01
代理公司: 北京喆翙知识产权代理有限公司 11616 代理人: 邓凌云
地址: 710000 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 一种 图形 成像 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种图形成像比对装置,包括对比仓、传送辊杆、固定杆、支撑柱、传送带和旋转轴,所述支撑柱对称设于固定杆下两端,所述旋转轴可转动贯穿固定杆两端设置,所述传送辊杆固定套接于旋转轴上,所述传送带套接于传送辊杆上,所述对比仓设于固定杆顶部且套接于传送带上。本实用新型属于工件检验技术领域,具体是指一种通过对比仓将待检测工件笼罩,避免其他光源影响照射,进而影响工件检测的图形成像比对装置。

技术领域

本实用新型属于工件检验技术领域,具体是指一种图形成像比对装置。

背景技术

工件指机械加工过程中的加工对象。它可以是单个零件,也可以是固定在一起的几个零件的组合体。工件的加工方式种类多样,有车、铣、刨、磨、铸造、锻造等等。工件的加工工序也随加工方式的变化而变化。现有的技术通过无影灯照射,拍摄工件图片,进行对比分析,实现工件检测,但是在实际使用时,极容易受到外来光源的影响,导致拍摄的图片不符合要求,导致工件检测结果准确度不高。

实用新型内容

为了解决上述难题,本实用新型提供了一种通过对比仓将待检测工件笼罩,避免其他光源影响照射,进而影响工件检测的图形成像比对装置。

为了实现上述功能,本实用新型采取的技术方案如下:一种图形成像比对装置,包括对比仓、传送辊杆、固定杆、支撑柱、传送带和旋转轴,所述支撑柱对称设于固定杆下两端,所述旋转轴可转动贯穿固定杆两端设置,所述传送辊杆固定套接于旋转轴上,所述传送带套接于传送辊杆上,所述对比仓设于固定杆顶部且套接于传送带上;所述对比仓包括仓体、下悬杆、侧开口、无影灯、限位装置、摄像机、固定板和处理装置,所述仓体设于固定杆顶部且套接于传送带上,所述无影灯对称内嵌设于仓体内壁底面上,所述侧开口对称贯穿仓体侧壁下端,所述传送带穿过侧开口设置,所述限位装置设于仓体侧壁内且设于侧开口上方,所述处理装置设于仓体内上壁下,所述固定板对称设于仓体上壁下且设于处理装置两侧,所述下悬杆对称设于固定板下,所述摄像机设于固定板下且连接于处理装置,所述摄像机设于无影灯正上方。

进一步地,所述限位装置包括线缆、连接通道、旋转仓、限位仓、阻尼转轴和限位板,所述旋转仓设于仓体侧壁内,所述阻尼转轴一端设于旋转仓内,所述阻尼转轴另一端设于仓体外侧,所述限位仓设于仓体侧壁内且设于侧开口上方,所述限位板可移动设于限位仓内,所述连接通道连接于旋转仓和限位仓,所述线缆连接于阻尼转轴和限位板,所述线缆贯穿连接通道设置,通过控制阻尼转轴转动,控制线缆收卷,实现限位板升降,调整侧开口的大小,可以根据检测工件的大小,调整限位板升降,进而可能减少外来光照进入仓体内,影响工件检测。

进一步地,所述支撑柱下设有底板。

进一步地,所述旋转仓内壁侧面设有固定套环,所述阻尼转轴可转动设于固定套环内,所述阻尼转轴远离旋转仓的一端套接设有旋转套,方便控制阻尼转轴转动。

本实用新型采取上述结构取得有益效果如下:本实用新型提供的一种图形成像比对装置操作简单,机构紧凑,设计合理,通过增设对比仓,将工件检测与外界隔离,减少外界光源的影响,并且通过控制阻尼转轴转动,控制线缆收卷,实现限位板升降,调整侧开口的大小,可以根据检测工件的大小,调整限位板升降,进而可能减少外来光照进入仓体内,影响工件检测。

附图说明

图1为本实用新型一种图形成像比对装置的整体结构图;

图2为本实用新型一种图形成像比对装置的对比仓的内部结构图;

图3为图2中A处局部放大图。

其中,1、对比仓,2、传送辊杆,3、固定杆,4、支撑柱,5、传送带,6、旋转轴,7、仓体,8、下悬杆,9、侧开口,10、无影灯,11、限位装置,12、摄像机,13、固定板,14、处理装置,15、线缆,16、连接通道,17、旋转仓,18、限位仓,19、阻尼转轴,20、限位板,21、底板,22、固定套环,23、旋转套。

具体实施方式

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