[实用新型]一种用于固态硬盘测试的控制结构

说明书

本实用新型涉及一种用于固态硬盘测试的控制结构，包含壳体、X86主板、散热器、散热风扇；所述壳体的一侧设置有多个外部对接插槽；所述壳体的一端设置有散热口；所述X86主板竖直设置在壳体内；所述X86主板的一侧设置有X86处理器和内存条，另一侧设置有多个与外部对接插槽对应放置的板对板连接器；所述散热器设置在X86主板上，且与X86处理器贴合；所述散热风扇设置在壳体内，且位于散热口处；本实用新型通过采用板对板连接器，不仅使得X86主板结构紧凑，除去了多余的固态硬盘测试领域不需要的接口，同时最大化扩展了固态硬盘测试所需要的接口，从而可以实现一个x86主板对多块固态硬盘同时进行测试的能力。

技术领域

本实用新型涉及固态硬盘测试领域，特指一种用于固态硬盘测试的控制结构。

背景技术

高温老化测试设备是一种针对高性能电子产品仿真出的高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

目前固态硬盘测试采用的是标准ATX或MiniATX等主板结构，虽然ATX或MiniATX等主板设置有很多接口，可以满足大部分需要，但导致主板尺寸大，并且有很多接口设计在固态硬盘测试上用不到，从而造成体积以及空间的浪费。

实用新型内容

本实用新型目的是为了克服现有技术的不足而提供一种用于固态硬盘测试的控制结构。

为达到上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种用于固态硬盘测试的控制结构，包含壳体、X86主板、散热器、散热风扇；

所述壳体的一侧设置有多个外部对接插槽；所述壳体的一端设置有散热口；

所述X86主板竖直设置在壳体内；所述X86主板的一侧设置有X86处理器和内存条，另一侧设置有多个与外部对接插槽对应放置的板对板连接器；

所述散热器设置在X86主板上，且与X86处理器贴合；

所述散热风扇设置在壳体内，且位于散热口处。

优选的，所述X86主板上螺纹连接有四根连接柱；所述散热器的四个角分别滑动设置在四根连接柱上；四根所述连接柱上均套设有使散热器与X86处理器紧密贴合的弹簧。

优选的，所述散热风扇为抽风风扇。

优选的，所述散热器上的鳍片沿着散热风扇的吸风方向平行放置。

优选的，所述散热风扇设置有多个，且竖直放置，并且其总的高度大于散热风扇的高度。

优选的，所述壳体呈阶梯结构；所述X86主板、散热器、散热风扇设置在壳体较厚的一端。

优选的，所述壳体的两侧均设置有成网格状的通风口。

由于上述技术方案的运用，本实用新型与现有技术相比具有下列优点：

1、本实用新型通过采用板对板连接器，不仅使得X86主板结构紧凑，除去了多余的固态硬盘测试领域不需要的接口，同时最大化扩展了固态硬盘测试所需要的接口，从而可以实现一个x86主板对多块固态硬盘同时进行测试的能力；

2、本实用新型采用吸风式散热方式，与传统吹风式散热方式相比，散热效果更好。

附图说明

下面结合附图对本实用新型技术方案作进一步说明：

附图1为本实用新型所述的用于固态硬盘测试的控制结构的外侧结构示意图；

附图2为本实用新型所述的用于固态硬盘测试的控制结构的内侧结构示意图；

附图3为本实用新型所述的用于固态硬盘测试的控制结构的部分结构示意图；